單片機系統RAM的測試方法研究

2 基于種子和逐位倒轉的RAM測試方法

基于種子和逐位倒轉的測試方法是在方法3的基礎上進(jìn)一步改進(jìn)獲得的。方法3主要是使用全O和全1兩個(gè)背景數來(lái)移位展開(kāi)的，與MARCH―G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些，但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數稱(chēng)為“種子”。以地址線(xiàn)為8根的RAM為例，種子分別取00000000和11111111兩個(gè)數，取00000000、11111111、0000llll和llll0000四個(gè)數，以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八個(gè)數來(lái)移位展開(kāi)測試，所達到的故障覆蓋率是不一樣的。種子數為2的改進(jìn)方法要低于MARCH―G算法的故障覆蓋率，種子數為4的改進(jìn)方法與MARCH―G算法相當，種子數為8的改進(jìn)方法能夠超過(guò)MARCH―G算法的效果。整體上基于種子和逐位倒轉的改進(jìn)方法是可以代替MARCH―G算法的，但是種子數目不同所需要的尋址次數也是不同的。設地址線(xiàn)為n根，種子數為2時(shí)需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計4”+4次，種子數為4時(shí)需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計8n+8次，種子數為8時(shí)需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計16n+16次，而MARCH―G算法需要訪(fǎng)問(wèn)RAM共計6×2n次?？梢?jiàn)，基于種子和逐位倒轉的改進(jìn)方法比MARCH―G算法的測試時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)大大降低。同時(shí)，故障覆蓋率會(huì )隨著(zhù)種子數目的增加而提高，當然不同種子數時(shí)所需要的測試時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)也不同。在實(shí)際測試應用中要根據測試時(shí)間和測試故障覆蓋率的需求來(lái)選擇合適的種子數目，才能達到滿(mǎn)意的效果。

結 語(yǔ)

本文介紹了單片機系統RAM測試的一般方法，并在原有基礎上提出了一種基于種子和逐位倒轉的RAM故障測試方法。它具有診斷耗時(shí)短、故障覆蓋率高的特點(diǎn)，因而有著(zhù)很高的應用價(jià)值。