光電耦合器的檢測方法及內部結構
光電耦合器——又稱(chēng)光耦合器或光耦,它屬于較新型的電子產(chǎn)品,現在它廣泛應用于計算機、音視頻……各種控制電路中。由于光耦內部的發(fā)光二極管和光敏三極管只是把電路前后級的電壓或電流變化,轉化為光的變化,二者之間沒(méi)有電氣連接,因此能有效隔斷電路間的電位聯(lián)系,實(shí)現電路之間的可靠隔離。
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1.、光電耦合器的檢測判斷光耦的好壞,可在路測量其內部.二極管和三極管的正反向電阻來(lái)確定。更可靠的檢測方法是以下三種。1. 比較法 拆下懷疑有問(wèn)題的光耦,用萬(wàn)用表測量其內部二極管;三極管的正反向電阻值,用其與好的光耦對應腳的測量值進(jìn)行比較,若阻值相差較大,則說(shuō)明光耦已損壞。
2. 數宇萬(wàn)用表檢測法 下面以PCIll光耦檢測為例來(lái)說(shuō)明數字萬(wàn)用表檢測的方法,檢測電路如圖1所示。檢測時(shí)將光耦內接二極管的+端①腳和—端②腳分別插入數字萬(wàn)用表的hfE的c,e插孔內,此時(shí)數字萬(wàn)用表應置于NPN擋;然后將光耦內接光電三極管c極⑤腳接指針式萬(wàn)用表的黑表筆,e極④腳接紅表筆,并將指針式萬(wàn)用表?yè)茉赗xlk擋。這樣就能通過(guò)指針式萬(wàn)用表指針的偏轉角度—— 實(shí)際上是光電流的變化,來(lái)判斷光耦的情況。指針向右偏轉角度越大,說(shuō)明光耦的光電轉換效率越高,即傳輸比越高,反之越低;若表針不動(dòng),則說(shuō)明光耦已損壞。
3. 光電效應判斷法 仍以ICIll光耦合器的檢測為例,檢測電路如圖2所示。將萬(wàn)用表置寸:Rxlk電阻擋,兩表
筆分別接在光耦的輸出端④、⑤腳,然后用一節1.5V的電池與一只50-100歐的電阻串接后,電池的正極端接PC111的①腳,負極端碰接②腳,或者正極端碰接①腳,負極端接②腳,這時(shí)觀(guān)察接在輸出端萬(wàn)用表的指針偏轉情況。如果指針擺動(dòng),說(shuō)明光耦是好的,如果不擺動(dòng),則說(shuō)明光耦已損壞。萬(wàn)用表指針擺動(dòng)偏轉角度越大,表明光電轉換靈敏度越高。
二、各種光電耦合電路的內部結構為了讀者查找各型號的光電耦合器內部結構,特附下表中所示電路圖。
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