非接觸自動(dòng)識別技術(shù)射頻識別技術(shù)解析方案

在標簽天線(xiàn)進(jìn)行設計和仿真并獲得理想結果之后，需要將天線(xiàn)加工并進(jìn)行測試以驗證設計和仿真的正確性。也正兇為前文中所介紹的標簽天線(xiàn)具有復數阻抗的特性，其測試方法和具有實(shí)數阻抗天線(xiàn)的測試方法有所區別。另外，在同一個(gè)標簽天線(xiàn)的測試過(guò)程巾，根據所需數據的不同其測試方法也有所不同通常測試天線(xiàn)的過(guò)程中并不需要專(zhuān)門(mén)測試天線(xiàn)的輸入阻抗。但標簽天線(xiàn)的阻抗為負數阻抗，且其虛部與實(shí)部之比較大(通常X/R》10)，這樣的阻抗曲線(xiàn)在smith 圓圖中靠近短路圓不易通過(guò)smith網(wǎng)圖觀(guān)察天線(xiàn)的阻抗帶寬。為了獲得標簽天線(xiàn)的輸入阻抗.可以將測試設備的輸出端口直接與天線(xiàn)的輸入端口相連由于這種方式并未考慮標簽天線(xiàn)本身具有復數阻抗這一特性.天線(xiàn)和測試設備之間并沒(méi)有取得共軛匹配，此時(shí)只能得到天線(xiàn)的阻抗參數，諸如散射矩陣參數和駐波比等常用來(lái)衡量天線(xiàn)的電路參數不能直接獲得。

為了獲得是散射參數和駐波比等電路參數，以便對天線(xiàn)的阻抗帶寬特性進(jìn)行評價(jià)，可將實(shí)測的阻抗參數帶入相關(guān)公式進(jìn)行計算或者采用阻抗匹配的方法在測試設備和天線(xiàn)之間加入匹配電路。匹配電路可用兩種方法構成，一是采用工作頻率較高的分立元件構成，二是采用微波電路構成。需要注意的是配電路應該距離天線(xiàn)端口足夠近.這樣才能獲得較大的帶寬并避免天線(xiàn)和配電路之間的連接線(xiàn)路帶來(lái)的負面影響。

電路用于標簽天線(xiàn)的測試。不過(guò)采用匹配電路具有一些缺點(diǎn)：

l.不論使用分立元件還是使用微波電路來(lái)構成阻抗配電路，其帶寬總是受限的，當天線(xiàn)真實(shí)帶寬大于配電路的帶寬時(shí)，所測試到的帶寬將不再準確;

2.南于配電路總是存在損耗，所以測試得到的帶寬和回波損耗值等參數和真實(shí)的天線(xiàn)參數有一些差別;

3.引入的配電路總是和天線(xiàn)之間存在距離，從而使得測試現一定誤差。

采上述使用匹配電路進(jìn)行測試的方案除了可以獲得一定精度的帶寬和同波損耗等參數之外，對于測試天線(xiàn)的方向圖和增益等輻射特性也是必須的。只有通過(guò)阻抗配電路才能將天線(xiàn)接收到的絕大部分能量基本無(wú)反射地傳遞到測試系統中，從而測試相應的輻射參數。

結語(yǔ)

隨著(zhù)射頻識別技術(shù)的應用不斷擴大，越來(lái)越多的場(chǎng)合要求使用射頻識別系統。電子標簽天線(xiàn)作為射頻識別系統中不可或缺的重要一環(huán)，其設計、生產(chǎn)、測試等均是未來(lái)研究的主要內容之一由于電磁波的固有特性，在諸如臨近金屬、液體等環(huán)境中，射頻識別系統的性能將大打折扣。在這樣的環(huán)境中除了提高讀寫(xiě)器的性能之外，電子標簽天線(xiàn)的性能的提高更為重要。目前我們正在針對電子標簽天線(xiàn)在這些復雜環(huán)境中的應用展開(kāi)研究。另外，柔性電子標簽貼附在非平坦表面時(shí)性能也會(huì )有所惡化。如何避免柔性標簽應用到非平坦表面帶來(lái)的影響也是目前我們另一個(gè)研究重點(diǎn)。