基于通信類(lèi)終端的嵌入式USB2.0 主機的測試

　　一 前言

　　在高速串行技術(shù)如此廣泛應用的今天，簡(jiǎn)單易用的USB堪稱(chēng)是PC平臺上最成功的I/O技術(shù)，普及率幾乎100%。而且隨著(zhù)終端用戶(hù)對于高速USB設備應用需求的不斷增加，越來(lái)越多的嵌入式通信類(lèi)終端產(chǎn)品開(kāi)始增加了USB2.0主機接口的設計以滿(mǎn)足客戶(hù)的應用需求。成熟的應用技術(shù)由PC平臺轉向嵌入式平臺的已經(jīng)成為一種趨勢。為了滿(mǎn)足USB2.0一致性應用的需求，所有的USB2.0設計都必須滿(mǎn)足USB IF發(fā)布的USB2.0物理層一致性測試要求。相對于比較成熟的PC平臺USB2.0 主機測試技術(shù)而言，基于通信類(lèi)終端的嵌入式USB2.0 主機的測試面臨更多的挑戰。特別是進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)的應用廠(chǎng)商而言，如何滿(mǎn)足USB2.0物理層一致性測試要求很大程度上需要原廠(chǎng)在測試模式以及測試封包方面提供更多的支持。但應用需求的多樣化導致了許多設計架構脫離了原廠(chǎng)的測試狀態(tài)機控制范疇，問(wèn)題接踵而來(lái)。

　　二 嵌入式USB2.0主機測試

　　1 產(chǎn)品USB部分原理及測試環(huán)境

　　產(chǎn)品USB控制原理

　　USB控制主機采用某大型通訊類(lèi)方案提供商的IAD解決方案，片內集成一個(gè)USB2.0控制器，然后通過(guò)一個(gè)USB HUB中繼對外提供2個(gè)高速主機接口。

　　測試設備：

　　DUT_USB2.0功能框圖