嵌入式系統中存儲器性能研究
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2 測試用數據
由前節討論可知，動(dòng)態(tài)內存除了內存單元，還有地址譯碼器，選擇器，控制器，放大器等部件。為此針對不同的部件，設計了不同的數據和讀寫(xiě)方式來(lái)進(jìn)行測試。
2．1 普通數據
普通數據就是全“0”或者全“1”。寫(xiě)入全“0”或者全“1”的數據，然后讀取校驗，來(lái)驗證內存單元是否正常工作。
2．2 棋盤(pán)數據
圖4表示了棋盤(pán)數據。在內存單陣列中寫(xiě)入如國際象棋棋盤(pán)一樣的數據。由于與每一位數據相鄰的數據都不一樣，棋盤(pán)數據可以用來(lái)檢測內存單元間的泄漏。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/149522.htm
2．3 行帶狀數據
圖5表示了行帶狀數據。采用行帶狀數據可以檢測Word線(xiàn)之間的泄漏。
2．4 列帶狀數據
圖6表示了列帶狀數據，用來(lái)檢測Bit線(xiàn)(數據線(xiàn))之間的泄漏。
2．5 移位數據
讀取內存數據時(shí)，Word線(xiàn)選中一行內存單元，數據還要通過(guò)選擇器，經(jīng)過(guò)列地址選擇，到達數據線(xiàn)。使用移位數據，使得每次只有一個(gè)數據引腳為1，其余都為0，檢測相互是否有影響。
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