大容量存儲器集成電路的測試

摘要：介紹了有關(guān)大容量存儲器集成電路測試系統的軟件原理和硬件構成，對大容量存儲器集成電路的測試方法作了初步探討，希望對實(shí)現實(shí)驗室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測和成品測試有所幫助。

關(guān)鍵詞：測試系統： 存儲器集成電路： 塊； 頁(yè)

中圖分類(lèi)號：TN407 文獻標識碼：A 文章編號：1004-4507(2005)05-0049-04

目前國內電腦內存條及配套產(chǎn)品、語(yǔ)言復讀機、DVD機以及數碼相機、數碼錄音、MP3等方面，對存儲器電路需求量超過(guò)8000萬(wàn)只，隨著(zhù)各類(lèi)電子產(chǎn)品的數碼化和大容量化，對存儲器電路的需求還將大幅增長(cháng)，對存儲器集成電路測試系統的需求也就越來(lái)越迫切。 大容量存儲器集成電路的測試系統是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng )新基金項目，是根據大容量存儲器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢而研究開(kāi)發(fā)的測試系統。方案的主要內容為測試方法和測試程序研究開(kāi)發(fā)，其次是測試板、適配器及生產(chǎn)性測試設備的研制和設備結構制作和調試等。特點(diǎn)是基于大容量存儲器集成電路的結構，采用全新的測試技術(shù)理論和較通用的測試設備，實(shí)現實(shí)驗室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測及成品測試。目前對高兆位存儲器電路能大批量測試的設備非常昂貴，低價(jià)的專(zhuān)用存儲器電路測試儀又不能滿(mǎn)足測試的可靠性和通用性要求，因此該項目將大大提高國內存儲器電路的生產(chǎn)能力，降低產(chǎn)品成本，提高存儲器電路的可利用率，有顯著(zhù)的經(jīng)濟效益和社會(huì )效益。

1 測試系統的基本原理

根據大容量存儲器電路的技術(shù)特點(diǎn)，不論EEPROM、DRAM、SDRAM、FLASRAM等，都有快速塊(BANK)、頁(yè)(PAGE)、單個(gè)單元和連續多個(gè)單元這4種不同的讀和寫(xiě)方式。本系統充分利用不同的讀和寫(xiě)方式進(jìn)行測試，首先以頁(yè)面方式測試存儲單元讀和寫(xiě)的正確性，再以塊方式測試連續寫(xiě)入固定數據的準確性，然后連續多個(gè)單元方式寫(xiě)入變化數據的穩定性，最后測試在單個(gè)單元寫(xiě)連續循環(huán)變化下數據的可靠性，按這樣順序運行4種不同的測試模塊，能非常準確地對存儲器電路的各種狀態(tài)進(jìn)行分析測試，對大容量存儲器電路SDRAM和flash RAM的測試項目以及存儲單元的可測試度為100％，系統定時(shí)精度