惠瑞捷同時(shí)推出可擴展測試機臺與數字通道卡

　　Advantest 集團旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng )可擴展、高性?xún)r(jià)比的測試機臺系列，可用來(lái)測試28 納米及更小尺寸工藝和3D架構的芯片。

　　Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng )新一代“智能”測試機臺，與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗的 V93000 平臺完全相容。智能測試意味著(zhù)每個(gè)通道卡具有獨立的時(shí)鐘域，通過(guò)匹配受測器件的準確數據率要求，實(shí)現全面的測試覆蓋率。配合電源調制、抖動(dòng)注入和協(xié)議通訊等其他重要特性，系統級壓力測試如今可在 ATE 層執行，提高了故障模型覆蓋范圍。

　　“憑借我們創(chuàng )新的 V93000 Smart Scale系列的測試系統和通道卡，惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領(lǐng)先，這些方法提供了定制的解決方案，可以為客戶(hù)降低測試成本。”Advantest 集團旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統 (SOC) 測試部執行副總裁)表示。

　　四個(gè)等級的 Smart Scale 測試機臺(A類(lèi)、C類(lèi)、S類(lèi) 和 L類(lèi))分別有不同的測試頭尺寸，使惠瑞捷可為每個(gè)客戶(hù)提供最高效的特定應用解決方案。

　　Wagner 補充道：“由于每個(gè)等級的測試機臺彼此完全相容，當芯片的產(chǎn)量在設備生命周期內變更時(shí)，用戶(hù)可快速輕松地把半導體器件從一個(gè)等級移至另一等級的Smart Scale機臺。目前沒(méi)有其他自動(dòng)測試設備供應商有能力生產(chǎn)具有此功能的機臺。”

　　惠瑞捷的獨特技術(shù)提高了并行測試的能力，并帶來(lái)了行業(yè)內第一個(gè)針對晶圓測試的全性能的解決方案,可以滿(mǎn)足高階的片上系統 (SOC)器件、系統級封裝 (SiP)器件和晶圓級芯片尺寸封裝 (WLCSPs) 的重要性能的測試需求。

　　V93000 Smart Scale 測試機臺推出同時(shí)，惠瑞捷還發(fā)布了三款新的數字通道卡。

　　新的Pin Scale 1600 數字卡和Pin Scale 1600-ME(存儲器仿真)卡為每個(gè)數字通道提供了行業(yè)最廣泛的能力范圍。除了提供從DC 到每秒 1.6 千兆比特(Gbps，早期系列的雙倍速率)的數據率范圍，這些卡還達到了先前通道卡密度的兩倍或四倍。高度集成、小外型封裝的新卡具有惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和 SmartLoop™ 等測試能力，可滿(mǎn)足對稱(chēng)高速接口的測試要求。此外，這些卡具有精確 DC 能力，并可執行高效的多路并行異步測試以及并發(fā)測試。

　　惠瑞捷的新款 Pin Scale 9G 卡使實(shí)速測試具備了經(jīng)濟性。它將高達 8 Gbps 的數據率和與Pin Scale 1600同樣的per pin通用性相結合，盡量提高通道使用率，并盡量減少閑置資源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的雙向功能，以及單端和差分模式。還可執行有向量和無(wú)向量測試，滿(mǎn)足絕大多數測試需要，包括面向設計驗證的并行 I/O 測試，以及大批量生產(chǎn)中的串行物理層 (PHY) 測試。