NI發(fā)布《2010自動(dòng)化測試前景報告》

　　美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)于4月13日發(fā)布了《2010自動(dòng)化測試前景報告》，就創(chuàng )新技術(shù)對當今測試測量應用的影響發(fā)表了研究結果。報告涵蓋了通信、國防航空、半導體、汽車(chē)和消費電子等眾多產(chǎn)業(yè)，力圖幫助工程師和管理者了解自動(dòng)化測試領(lǐng)域的最新發(fā)展趨勢及其影響。

　　NI通過(guò)與眾多涉及不同領(lǐng)域的公司進(jìn)行交流，對技術(shù)發(fā)展趨勢進(jìn)行了廣泛的研究，從獨特的視角觀(guān)察測試測量市場(chǎng)?！?010自動(dòng)化測試前景報告》結合了學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢(xún)、用戶(hù)調查、在線(xiàn)論壇、客戶(hù)反饋和區域銷(xiāo)售代表討論的結果。以此數據為基礎，該報告闡述了未來(lái)測試測量趨勢以及如何應對測試測量行業(yè)所面臨的市場(chǎng)挑戰與技術(shù)挑戰。

　　《2010自動(dòng)化測試前景報告》從五個(gè)角度出發(fā)進(jìn)行闡述：這五個(gè)角度分別是商業(yè)策略、構架、計算、軟件和硬件I/O。報告在每一類(lèi)中詳細闡述了影響測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢、方法或技術(shù)。報告談?wù)摿艘韵挛鍌€(gè)主題：

　　· 標準化：開(kāi)發(fā)通用的平臺，降低成本，在產(chǎn)品的整個(gè)生命周期中可重復利用測試系統

　　· 多通道RF測試：測試下一代無(wú)線(xiàn)設備需要一個(gè)從信號層面到軟件層面的并行測試架構

　　· Peer-to-Peer計算：越來(lái)越復雜的測試要求需要更高的性能和點(diǎn)對點(diǎn)計算構架

　　· 嵌入式設計與測試：通過(guò)實(shí)時(shí)測試軟件，工程師可以在測試階段復用他們在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中建立的嵌入式系統模型

　　· 可重配置的儀器：基于FPGA的儀器通過(guò)引入硬件級的自定義特性，進(jìn)一步提高了性能和靈活性