SEMICON 2025 | NI 6大半導體測試方案全解析

SEMICON CHINA將于2025年3月26日至3月28日在上海新國際博覽中心隆重舉行，屆時(shí)，NI（恩艾中國）將攜最新的產(chǎn)品及最前沿的技術(shù)亮相，誠邀國內外嘉賓蒞臨NI展臺（N2館，展位號N2707）進(jìn)行指導交流。

01 鎖定NI展位

時(shí)間：3月26日至3月28日

地點(diǎn)：上海新國際博覽中心

NI 展位號：N2館，展位號N2707

02 現場(chǎng)演示

★ Wi-Fi 7 / UWB 無(wú)線(xiàn)測試系統

NI推出的最新矢量信號收發(fā)器PXIe-5842 VST,可以覆蓋30 MHz - 26.5 GHz整個(gè)頻率范圍，具有高達2GHz的瞬時(shí)帶寬。

★ PMIC / ADC自動(dòng)化測試平臺

NI為多通道電源管理芯片（PMIC）設計的自動(dòng)化測試平臺不僅提供了靈活的硬件配置，以適應不同的通道數量，還配備了高效的軟件測試方案。

★ 自動(dòng)化生產(chǎn)測試STS系統

STS (Semiconductor Test System)是為快速部署和高性能設計的自動(dòng)化測試系統，廣泛應用于自動(dòng)化生產(chǎn)測試（APT）,尤其是在射頻（RF）測試領(lǐng)域。

★ 功率半導體可靠度測試系統

對于H3TRB動(dòng)態(tài)測試，SET提供的系統可將行業(yè)的擴展要求轉化為自動(dòng)動(dòng)態(tài)測試。系統特別注重靈活性，以便能夠快速滿(mǎn)足不斷變化的要求。

★ 光電子測試方案

NI為光電子的DC測試提供了優(yōu)質(zhì)的解決方案，電學(xué)及光學(xué)測試儀器和儀表均可集成在同一個(gè)PXI平臺中，利用NI的軟件硬件平臺優(yōu)勢，加速光電子測試的效率。

★ 孤波MCU實(shí)驗室自動(dòng)化測試方案 ——賦能高標準車(chē)規芯片驗證

孤波MCU實(shí)驗室自動(dòng)化測試方案 ——賦能高標準車(chē)規芯片驗證。