TD LTE產(chǎn)業(yè)鏈呼喚低成本測試儀表

　　盡管TD-LTE整體產(chǎn)業(yè)鏈相對FDDLTE發(fā)展較慢，但是用于TD-LTE測試的儀表比以往有了很大的改善，已經(jīng)能夠與設備研發(fā)的步調相匹配。

　　在網(wǎng)絡(luò )協(xié)議測試方面，由于TD-LTE測試標準仍未最后定稿，所以各廠(chǎng)商仍積極跟蹤TD-LTE標準，不斷更新其產(chǎn)品，以R&S為代表，其協(xié)議測試儀CMW500，可以提供的頻率高達6GHz，帶寬為40MHz，可以用于一致性測試，性能測試和互操作測試。

　　網(wǎng)絡(luò )測試無(wú)論對TDD還是FDD都是一個(gè)挑戰，在原GSM和UMTS等現有技術(shù)中，涉及網(wǎng)絡(luò )接入，包括擁塞、干擾和覆蓋問(wèn)題等一大部分可觀(guān)的信息都在有線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )接口上提供，通過(guò)使用傳統工具，就能夠得出測試結果，而在LTE中，情況發(fā)生了變化，因為網(wǎng)絡(luò )接入節點(diǎn)設計得更加智能，接入網(wǎng)絡(luò )控制功能直接轉移到了eNodeB的網(wǎng)絡(luò )邊緣上。網(wǎng)絡(luò )接入部分和核心部分間的有線(xiàn)接口不再提供關(guān)鍵的無(wú)線(xiàn)性能信息，無(wú)法確定存在哪些問(wèn)題。這意味著(zhù)廠(chǎng)商和運營(yíng)商被迫要直接查看空中接口，以獲得與網(wǎng)絡(luò )接入性能和服務(wù)質(zhì)量有關(guān)的信息，另外還必須能夠把這種分析簡(jiǎn)便地與其他網(wǎng)絡(luò )接口的數據關(guān)聯(lián)起來(lái)。

　　信號源、信號分析儀表很多時(shí)候被劃分為基礎通用儀表，之前的測試廠(chǎng)商的水平已經(jīng)研發(fā)出具有競爭力的產(chǎn)品，不存在難點(diǎn)。

　　下一步，一方面測試廠(chǎng)商需要緊跟TD-LTE標準的確立，盡快推出TD-LTE協(xié)議測試儀表，另一方面需要從終端測試產(chǎn)品入手，盡快推出成本低的產(chǎn)業(yè)化儀表。

　　隨著(zhù)TDD受到的關(guān)注加大可以預見(jiàn)將會(huì )有更多的測試廠(chǎng)商參與到TD-LTE測試儀表的研發(fā)，前景好于預期。