USB 3.0線(xiàn)纜和連接器的阻抗和插損測試

　　式2 用來(lái)將圖2中測到的插損 轉換到90歐姆差分阻抗。圖3中的兩個(gè)曲線(xiàn)給出了100歐姆和90歐姆特征阻抗的的回波損耗。

　　Figure 3: Return loss measured with 100 ohm reference (dotted line) and 90 ohm (solid line) reference

　　圖3：100 歐姆(虛線(xiàn))和90歐姆參考(實(shí)線(xiàn))的回波損耗

　　USB 3.0 線(xiàn)纜和連接器的差分阻抗可以使用校正的TDR系統測量插損而得出。通過(guò)對連接到待測器件的參考平面(基線(xiàn)校正)運行開(kāi)路，短路，負載進(jìn)行校正。通過(guò)簡(jiǎn)單的轉換測試系統和待測器件之間的不同阻抗進(jìn)行插損補償。

　　References

　　參考：

　　[1] “Time Domain Spectrum Analyzer and "S" Parameter Vector Network Analyzer”, James R. Andrews, Picosecond Pulse Labs application note AN-16a, November 2004

　　[2] “converting s-parameters from 50-ohm to 75-ohm Impedance”, Dallas Semiconductor/Maxxim application note November 21, 2003