NEC面部識別技術(shù)在美國NIST測評中榮獲第一名

　　美國標準技術(shù)研究院受美國國土安全部委托，舉辦了“廠(chǎng)商評價(jià)項目?靜止面部圖像部門(mén)”的評比測試。在此次測試中，NEC的面部識別技術(shù)榮獲得了世界第一。NEC能夠在世界主要的廠(chǎng)商中脫穎而出，獲此殊榮，有力證實(shí)了其在面部識別方面的技術(shù)優(yōu)勢。

　　NEC參加的“靜止面部圖像部門(mén)”測評，是以高像素數碼相機所拍攝的面部圖像、IC護照中被縮小壓縮的面部圖像、以及在大廳及走廊等光線(xiàn)不充分或者在室外太陽(yáng)直射的不利條件下所拍攝的面部圖像為測評對象。由于這些限制條件在實(shí)際應用中確實(shí)會(huì )遇到，所以此次測評所獲得的評價(jià)，也可以用來(lái)證明實(shí)際應用中技術(shù)性能的指數。

　　在這次測評中，NEC的誤判率(將他人誤認為本人的概率)僅為0.1%，比對失敗率(沒(méi)有識別出本人的概率)為2~4%(注2)，以明顯優(yōu)勢獲得第一名。

　　NEC之所以能夠達到如此高的識別率算法，乃是采用了2002年上市的面部特征點(diǎn)抽取/面部比對引擎“NeoFace”(注3)中的多重比對面部特征點(diǎn)抽取法和空間攝動(dòng)法,并在此基礎上應用了NEC中央研究院開(kāi)發(fā)的不受照明、面部的朝向等環(huán)境影響的個(gè)人特征抽取新技術(shù)，才得以實(shí)現的。

　　NIST舉辦的這次技術(shù)廠(chǎng)商測評活動(dòng)，是針對惡性、大范圍、多樣型犯罪，以積極促進(jìn)面部識別技術(shù)的研發(fā)和早日應用為目的。此次測試，得到了美國國土安全部、司法部、FBI、國防部的支持與贊助，測試結果受到了世界的廣泛關(guān)注。

　　NEC在全世界率先開(kāi)始生物識別技術(shù)的研究與開(kāi)發(fā)，其中指紋認證技術(shù)研發(fā)

　　擁有40年歷史，面部識別技術(shù)也有20年歷史。在NIST主辦的技術(shù)評比中，NEC曾于2004年獲得“指紋識別技術(shù)”第一名。此次，在面部識別技術(shù)領(lǐng)域又獲得第一名的殊榮，再次有力證實(shí)了NEC在生物識別技術(shù)領(lǐng)域擁有的實(shí)力。NEC的面部識別技術(shù)不僅在日本，在香港(中國)、智力等國家和地區，也被廣泛應用于警察、司法機關(guān)、出入境管理、娛樂(lè )設施等領(lǐng)域。今后，NEC會(huì )再接再厲，繼續向世界提供采用最高技術(shù)的生物識別解決方案。