香港科技大學(xué)在高交會(huì )中展示其RFID基準測試技術(shù)研究成果

　　香港科技大學(xué)計算機科學(xué)及工程學(xué)系于第十一屆中國國際高新技術(shù)成果交易會(huì )中展示射頻識別技術(shù)基準測試方法學(xué)的研究，并與商界交流及分享研究成果。

　　射頻識別技術(shù)基準測試方法學(xué)的研究范疇廣泛，而「多天線(xiàn)多標簽」測試研究則為其中一個(gè)應用范圍，亦是該系在今屆交易會(huì )中所展示的主要項目。于展會(huì )期間，研究人員向在場(chǎng)參觀(guān)的廠(chǎng)商、學(xué)術(shù)界人士講解研究項目的目標及研究過(guò)程，并分享研究測試中所遇的挑戰和所得的成果。研究小組期望把項目的研究結果和心得跟業(yè)界交流，以協(xié)助商界解決在應用射頻識別技術(shù)上的問(wèn)題，藉以鼓勵不同的業(yè)界使用射頻識別技術(shù)，推動(dòng)技術(shù)的發(fā)展。

　　當射頻識別技術(shù)應用于商界作業(yè)時(shí)，經(jīng)常要面對同時(shí)使用多個(gè)天線(xiàn)及標簽的實(shí)際操作環(huán)境，而「多天線(xiàn)多標簽」的測試研究能夠模仿常見(jiàn)的射頻識別技術(shù)的應用環(huán)境，測試使用多個(gè)天線(xiàn)及多個(gè)標簽時(shí)的數據採集結果，以基準測試方法來(lái)減少或消除各種能影響射頻識別設備的因素，從而掌握最優(yōu)的天線(xiàn)及貨品擺放位置。此外，在射頻識別技術(shù)的應用上，技術(shù)的性能經(jīng)常受不同因素所影響，例如天線(xiàn)高度、標簽密度、天線(xiàn)的數量、讀取距離、包裝等等。因此，「多天線(xiàn)多標簽」測試研究能協(xié)助解決由環(huán)境、材料和設備所造成的限制，并確保所有的標簽都能被正確地識別。

　　香港科技大學(xué)計算機科學(xué)及工程學(xué)系獲香港創(chuàng )新科技署及香港物流及供應鏈管理應用技術(shù)研發(fā)中心資助，致力于射頻識別技術(shù)的基準測試研究，并推動(dòng)技術(shù)在商界的廣泛應用。今屆中國國際高新技術(shù)成果交易會(huì )于深圳會(huì )展中心舉行，展期為11月16日至21日。