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keithley kickstart 文章 進(jìn)入keithley kickstart技術(shù)社區
吉時(shí)利8×8 MIMO測試系統擴展MIMO射頻測量功能
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，憑借其推出的測量級8×8 MIMO系統進(jìn)一步擴大其在射頻MIMO（多輸入多輸出）測試領(lǐng)域的領(lǐng)先地位。該系統適用于下一代射頻MIMO器件與技術(shù)的基礎性研究。 吉時(shí)利在2007年末推出業(yè)界第一款用于產(chǎn)品研發(fā)的4×4 MIMO測試設備。此次新推出的8×8 MIMO系統建立在同一種屢獲殊榮的測量平臺上，其測量能力和性能是其他射頻測試系統無(wú)法比擬的。 支持2通道到最高8通道范圍內的MIMO研究應用； 獨立的系統組件儀器
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吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導體特征分析系統KTEI V7.1升級版
- 吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前發(fā)布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統推出了KTEI（吉時(shí)利交互式測試環(huán)境）V7.1版。經(jīng)過(guò)此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場(chǎng)上最完整的半導體特征分析儀，大大降低了一些復雜測量的難度，并且通過(guò)保護用戶(hù)的固定資產(chǎn)投資降低了用戶(hù)的測試成本。 KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴寬了4200-CVU（電容-電壓?jiǎn)卧┑墓δ埽?/li>
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吉時(shí)利瞄準無(wú)線(xiàn)測試新市場(chǎng)
- 吉時(shí)利（Keithley）在測試儀器廠(chǎng)商中只能算是個(gè)小巨人，論規模，距離那些巨頭有不小的差距，論市場(chǎng)占有率，在小信號精確測量市場(chǎng)占有超過(guò)70%的份額，算是不折不扣的統治者。小信號測試市場(chǎng)成功只能代表過(guò)去，要發(fā)展，必須尋找更為廣闊的產(chǎn)品應用領(lǐng)域，吉時(shí)利的目標選擇了無(wú)線(xiàn)測試。 在無(wú)線(xiàn)測試儀器領(lǐng)域，幾年前吉時(shí)利還默默無(wú)聞，隨著(zhù)企業(yè)在小信號領(lǐng)域的成功，已經(jīng)很難在這個(gè)領(lǐng)域取得更大的突破，因此，應用空間更為廣闊的無(wú)線(xiàn)測試市場(chǎng)對急于壯大自己的吉時(shí)利充滿(mǎn)了誘惑。憑借著(zhù)在小信號測量積累的豐富經(jīng)驗，吉時(shí)利逐漸將產(chǎn)品開(kāi)發(fā)
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2008十佳晶圓設備和工藝診斷設備廠(chǎng)商排名(圖)
- 市場(chǎng)調研機構VLSIResearch近日公布了2008十佳半導體設備廠(chǎng)商。今年獲得工藝診斷設備廠(chǎng)商、小型晶圓處理設備廠(chǎng)商和大型晶圓處理設備廠(chǎng)商各個(gè)類(lèi)別桂冠的分別是KeithleyInstruments、SENCorporation和VarianSemiconductor。 本次調查結果是來(lái)自對芯片制造商4565次調查，受訪(fǎng)制造商的產(chǎn)量總和約占全球產(chǎn)量的95％。每家設備供應商在13項指標中進(jìn)行排名，包括設備性能和客服等。以下是十佳供應商排名： 工藝診斷設備供應商 在工藝診斷設備供應商中
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06年測試測量行業(yè)：平靜中沖擊目標
- 雖然2006年剛剛開(kāi)始僅2個(gè)月，但測試測量行業(yè)內，各廠(chǎng)家的蠢蠢欲動(dòng)，暗示著(zhù)這一年將會(huì )有更加激烈的競爭。筆者日前分別采訪(fǎng)了Aeroflex、Rigol、Keithley、Credence以及凌華等公司，得到的總體感覺(jué)是這些廠(chǎng)家對于自己的實(shí)力都相當的自信，對于占據相當的市場(chǎng)份額都信心十足。 Aeroflex：步伐穩健，胸有成竹 Aeroflex公司成立于1937年，全球總部在美國紐約的Plainview。目前公司的業(yè)務(wù)發(fā)展包括兩大方向：微電子領(lǐng)域的解決方案(AMS)，測試與測量領(lǐng)域的解決方案(
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Keithley最新升級版參數測試軟件
- Keithley最新升級版參數測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量（如RF頻率測試），并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中所涉及的并行測試能力。此外，經(jīng)過(guò)升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡(jiǎn)化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟
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Keithley測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量（如RF頻率測試），并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中所涉及的并行測試能力。此外，經(jīng)過(guò)升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡(jiǎn)化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時(shí)利（Keithley）不斷改進(jìn)測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾，將助于測試工程師
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Keithley最新升級版參數測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性
- 吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量（如RF頻率測試），并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中所涉及的并行測試能力。此外，經(jīng)過(guò)升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡(jiǎn)化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時(shí)利（Keithley）不斷改進(jìn)測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾，將助于測試工程師們降
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Keithley針對混合測試系統發(fā)布PXI產(chǎn)品線(xiàn)
- Keithley發(fā)布新的PXI產(chǎn)品線(xiàn)。該產(chǎn)品線(xiàn)作為使用高精度儀器混合系統的一部分，專(zhuān)為高速自動(dòng)化生產(chǎn)測試設計。測試工程師和設計師可將新KPXI高速數據采集和緊湊的觸發(fā)同步特性與吉時(shí)利儀器的高精度測量能力相結合，從而實(shí)現卓越的混合系統架構。利用附加的吉時(shí)利創(chuàng )新技術(shù)如TSP™（測試腳本處理器），可實(shí)現分布式編程和同步執行的架構，帶來(lái)無(wú)與倫比的高準確度和高產(chǎn)出。吉時(shí)利是目前唯一提供廣泛的高精度測量和高速度數據采集的專(zhuān)業(yè)儀器供應商，包括PXI、LXI、PCI、US
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KEITHLEY在新加坡和馬來(lái)西亞設分公司
- 做為新興測試測量技術(shù)的領(lǐng)導企業(yè), 美國吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司 (NYSE: KEI),宣布對其在東南亞的業(yè)務(wù)進(jìn)行進(jìn)一步擴張，包括大規模擴充其在新加坡的分公司,并在馬來(lái)西亞新增兩家分公司，以便對東南亞市場(chǎng)的客戶(hù)提供更直接方便的支持和服務(wù)。 “我們新加坡分公司的擴充和馬來(lái)西亞的新的分公司的成立使我們能夠和當地的客戶(hù)建立更緊密地業(yè)務(wù)合作關(guān)系”，Keithley董事會(huì )主席、總裁兼首席執行官（CEO）Joseph P. Keith
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Hamilton獲得2005年度IEEE Joseph F. Keithley獎
- 表彰VMetrix有限責任公司的總裁兼 CEO Clark A. Hamilton博士 在DC Josephson結方面取得的成就 IEEE宣布向Clark A. Hamilton博士授予儀器和測量領(lǐng)域的2005年度 IEEE Joseph F. Keithley獎。Hamilton是Vmetrix有限責任公司的總裁兼CEO，公司位于美國科羅拉多州玻爾得市。Hamilton的成就是實(shí)現了DC Josephson結陣列電壓標準。他的工作為最終用戶(hù)的實(shí)驗室帶來(lái)更快和更高準確度的電壓標準系統，給電壓
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高性能納伏表消除偏移、漂移和噪聲
- 高性能納伏表消除偏移、漂移和噪聲可靠測量數十億分之幾伏電壓，這對于生產(chǎn)高質(zhì)量的尖端半導體器件是至關(guān)重要的。不過(guò)，獲得可重復的可信結果一直是個(gè)大難題。您想測量的數量通常是偏移電壓的一小部分，而簡(jiǎn)單地倒換測試引腳和取測量結果的平均值通常都不管用。偏移保持恒定的時(shí)間太短，而且偏移不斷變化和漂移?！ eithley 公司用2182A 納伏表nanovoltmeter解決了這個(gè)問(wèn)題（見(jiàn)圖片）。事實(shí)上，該儀器不僅能自動(dòng)進(jìn)行引線(xiàn)倒換，而且還能跟蹤偏移電壓的變化，并減掉恰當的數量。根據 Keithley 公司的說(shuō)法，所
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Keithley多通道源測量測試卡適用于4500-MTS多通道I-V測試系統
- Keithley(吉時(shí)利)儀器公司推出適用于4500-MTS多通道I-V測試系統的兩款全新的多通道源－測量測試卡4510或4511 Quad I-V。新產(chǎn)品每通道都可以提供一個(gè)高功率電流源子通道、一個(gè)低功率電壓源子通道、以及一個(gè)用于讀取DUT對源激勵反應的5-1/2位ADC。其中4510型卡具有
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Keithley推出KTEI 5.0軟件
- 吉時(shí)利儀器公司(Keithley)發(fā)布基于4200-SCS型半導體特性系統的KTEI 5.0軟件。該軟件簡(jiǎn)化了對設備的電流-電壓測量，如晶體管、電阻以及多達8條獨立通道上的電學(xué)測試。除了對核心性能的增強，KTEI5.0還增加了stress能力，可以進(jìn)行一系列可靠性測試。www.keithley.com.cn
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