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艾邁斯半導體推出適用于高速電機的新型位置傳感器，助力汽車(chē)行業(yè)的電氣化發(fā)展
- 全球領(lǐng)先的高性能傳感器解決方案供應商、移動(dòng)市場(chǎng)3D臉部識別領(lǐng)域領(lǐng)導者艾邁斯半導體（ams AG）近日宣布，推出兩款新型位置傳感器 — AS5147U和AS5247U，可降低系統成本，同時(shí)提高安全關(guān)鍵型汽車(chē)功能（如動(dòng)力轉向、主動(dòng)減振器控制和制動(dòng)）的電氣化水平，有助于實(shí)現更安全、更智能、更環(huán)保的汽車(chē)。這兩款新型位置傳感器能夠為汽車(chē)行業(yè)帶來(lái)多種性能優(yōu)勢，并可降低系統成本。艾邁斯半導體AS5147U是一款智能旋轉磁性位置傳感器芯片，可用于轉速高達28,000rpm的電機。新型AS5247U是一款雙堆疊式裸片，可提
- 關(guān)鍵字： SPI BLDC CRC DSP UVM
用于醫療和光譜應用的改進(jìn)型深紫外光光纖
- 1 深UV應用光纖的曝曬風(fēng)險 用于梯度折射率光纖的純硅芯材料易于受到UV引發(fā)衰減的影響。UV輻射引起玻璃結構中局部缺陷中心的增加，使得衰減增加，這個(gè)情況稱(chēng)為曝曬 (solarization)。大多數衰減發(fā)生在小于275 nm的波長(cháng)范圍，以及214nm和265 nm的吸收頻帶。損壞程度隨光纖類(lèi)型而有很大的變化，例如，在常見(jiàn)的梯度折射率光纖中，用作內核材料的合成石英玻璃是極純的材料，卻存在著(zhù)數種濃度不同的內在雜質(zhì)缺陷，而且入射的UV輻射會(huì )引起某些硅氧結構的缺陷。每種缺陷的濃度取決于數個(gè)因素，包括預制
- 關(guān)鍵字： 光纖 UVM FDP UV輻射 曝曬
Mentor欲成立機構研究基于圖形的測試規范標準化
- ?? Mentor?Graphics日前宣布，為對基于圖形的測試規范標準的標準化問(wèn)題進(jìn)行研究，公司已提議成立新的Accellera標準委員會(huì )。為深化此項工作，Mentor?Graphics公司將把其現有的基于圖形的測試規范格式作為技術(shù)捐贈奉獻出來(lái)，以啟動(dòng)標準化工作?！ 癕entor?Graphics公司基于圖形的規范化技術(shù)，以其快速徹底的覆蓋設備狀態(tài)空間能力，為驗證領(lǐng)域帶來(lái)了惹人注目的新價(jià)值，”SyoSil咨詢(xún)公司的?所有人兼總經(jīng)理?
- 關(guān)鍵字： Mentor Accellera UVM FPGA 嵌入式
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