EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
terascanhr
terascanhr 文章 進(jìn)入terascanhr技術(shù)社區
KLA-Tencor推出業(yè)內首套45納米光掩膜檢測系統TeraScanHR
- KLA-Tencor宣布推出 TeraScanHR 系統 – 業(yè)內首套新一代 45 納米生產(chǎn)級光掩膜檢測系統。45 納米及以上節點(diǎn)生產(chǎn)中缺陷尺寸小，并采用極為復雜的 OPC*，這要求檢測設備具有極高的分辨率，TeraScanHR 滿(mǎn)足了這一要求，同時(shí)大大改進(jìn)了生產(chǎn)效率，客戶(hù)不僅可以獲得 45 納米關(guān)鍵層生產(chǎn)的最高靈敏度，而且還可降低非關(guān)鍵層和芯片生產(chǎn)的單位檢測成本。 “我們新的 TeraScanHR 系統為光掩膜制造商帶來(lái)了非凡的新技術(shù)和經(jīng)濟效益，可有效降低多代光掩膜生產(chǎn)的成本，其中包括異常復
- 關(guān)鍵字： KLA-Tencor TeraScanHR 測量 測試 光掩膜檢測系統
| 共1條 1/1 1 |
terascanhr介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條terascanhr!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對terascanhr的理解，并與今后在此搜索terascanhr的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對terascanhr的理解，并與今后在此搜索terascanhr的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473