EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
mems開(kāi)關(guān)
mems開(kāi)關(guān) 文章 進(jìn)入mems開(kāi)關(guān)技術(shù)社區
基于新型MEMS開(kāi)關(guān)提高SoC測試能力及系統產(chǎn)出
- 先進(jìn)的數字處理器IC要求通過(guò)單獨的DC參數和高速數字自動(dòng)測試設備(ATE)測試，以達到質(zhì)保要求。這帶來(lái)了很大的成本和組織管理挑戰。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測試，以幫助進(jìn)行DC參數測試和高速數字測試，從而降低測試成本，簡(jiǎn)化數字/RF片上系統(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上，以測試數字SoC ATE挑戰半導體市場(chǎng)在不斷發(fā)展，為5G調制解調器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進(jìn)的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
- 關(guān)鍵字： MEMS開(kāi)關(guān) SoC測試
mems開(kāi)關(guān)介紹
MEMS開(kāi)關(guān)就是MEMS技術(shù)的具體應用。顧名思義,開(kāi)關(guān)就是來(lái)控制電路通斷狀況的，高效、快速反應、準確、重復使用頻率、高可靠性是現代電路系統對開(kāi)關(guān)的特殊要求。MEMS開(kāi)關(guān)的研究始于1979年IBM的K.E.Peterson，隨后經(jīng)過(guò)了二十幾年的發(fā)展，由于薄膜的柔軟和變形，MEMS開(kāi)關(guān)始終沒(méi)有取得人們預期的成績(jì)。隨著(zhù)通訊頻率的不斷增高，現有的半導體開(kāi)關(guān)因不能滿(mǎn)足頻率的升高而失去開(kāi)關(guān)能力。MEMS開(kāi)關(guān)的 [ 查看詳細 ]
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473