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J750測試系統穩定性分析
- 張桂玉，任希慶（安普德（天津）科技股份有限公司，天津 300384） 摘 要：J750測試系統是一種超大規模邏輯及存儲器件測試系統。本文通過(guò)一系列的數據采集，同時(shí)應用統計學(xué)的分析方法，借助于Minitab統計分析軟件，分別對采集到的數據進(jìn)行了分析，從而得到測試系統的一些性能參數，進(jìn)而可以分析出測試系統的穩定性。通過(guò)這一系列分析后，可以找到影響生產(chǎn)率的各種因素，大大提高測試系統的工作效率，縮短產(chǎn)品的復測時(shí)間，提高良品率，提高測試的準確率，進(jìn)而提高生產(chǎn)率?！ ￡P(guān)鍵詞：Minitab；J750；測試系統；
- 關(guān)鍵字： 202007 Minitab J750 測試系統 穩定性
漸進(jìn)式開(kāi)發(fā)策略的范例 三星SGH-J750拆解報告
- 本期的拆解對象是三星公司的SGH-J750手機,該產(chǎn)品是反映蜂窩電話(huà)市場(chǎng)背后快速短暫的OEM外包決策、ASIC開(kāi)...
- 關(guān)鍵字： 拆解 三星 SGH-J750 開(kāi)發(fā)
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