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基于Hilbert分形結構的RFID標簽天線(xiàn)設計
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字: Hilbert 分形結構 RFID 標簽天線(xiàn) 小型化
基于Hilbert分形結構的標簽天線(xiàn)設計
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字: Hilbert 分形結構 電子標簽 天線(xiàn)設計
基于Hilbert變換的電壓凹陷檢測方法
- 電壓凹陷是嚴重的動(dòng)態(tài)電能質(zhì)量問(wèn)題之一,補償電壓凹陷能帶來(lái)巨大的經(jīng)濟效益。而實(shí)現電壓凹陷特征量的快速、準確檢測是電壓凹陷補償的前提,因此電壓凹陷特征量的檢測方法及補償指令的產(chǎn)生成為目前對DVR研究的一個(gè)熱點(diǎn)。采用Hilbert變換與后差分相結合的檢測方法,首先利用Hilbert變換可對凹陷電壓信號的幅值進(jìn)行檢測,然后采用后差分得到電壓凹陷的起止時(shí)刻,不但提高了檢測精度,還能實(shí)時(shí)產(chǎn)生電壓補償指令信號。通過(guò)Matlab對其進(jìn)行仿真,仿真結果表明了該檢測方法簡(jiǎn)單、快速、準確的優(yōu)點(diǎn)。
- 關(guān)鍵字: Hilbert 變換 電壓 檢測方法
基于Hilbert分形結構的電子標簽天線(xiàn)設計研究
- 經(jīng)過(guò)仿真和實(shí)際測試,發(fā)現介質(zhì)基板,封裝材料的相對介電常數和材料的厚度對天線(xiàn)諧振頻率點(diǎn)都有較大影響。即諧振頻率點(diǎn)隨著(zhù)介電常數和基板厚度的增大而減小,對于分形天線(xiàn),它們只影響諧振頻點(diǎn)的下降,但不會(huì )影響各個(gè)諧振頻點(diǎn)的相對位置。也就是說(shuō),分形天線(xiàn)具有多諧振點(diǎn)特征,但是多個(gè)諧振頻率之間的關(guān)系是由分形的結構確定的,而不是由材料的介電常數和介質(zhì)厚度確定的。相對介電常數和材料的厚度對天線(xiàn)的輻射方向圖和天線(xiàn)增益不產(chǎn)生影響, 這種性質(zhì)也可用于天線(xiàn)小型化的設計中。
- 關(guān)鍵字: Hilbert 分形 電子標簽 天線(xiàn)設計
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