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201001
201001 文章 進(jìn)入201001技術(shù)社區
熱量表的流量自動(dòng)標定系統的設計
- 為了實(shí)現熱量表的流量自動(dòng)標定和提高標定效率，采用高精度的稱(chēng)重法設計了熱量表的流量自動(dòng)標定系統。
- 關(guān)鍵字： 熱量表 流量 自動(dòng)標定 MSP430F149 主控芯片 201001
基于JTAG邊界掃描方式的重構控制器的設計
- 為充分利用硬件資源，滿(mǎn)足不同的應用需求,本文提出了一種基于JTAG邊界掃描模式配置的重構控制器，詳細介紹控制器的硬件實(shí)現以及配置流程，該控制器通過(guò)模擬JTAG接口時(shí)序及TAP狀態(tài)機的功能，實(shí)現在系統配置目標可編程器件。
- 關(guān)鍵字： FPGA TAP狀態(tài)機 JTAG邊界掃描 重構 201001
BIT技術(shù)在裝備控制系統故障診斷中的應用
- 在分析了內裝測試關(guān)鍵技術(shù)基礎上，設計了一套基于A(yíng)DuC812且集各種檢測功能于一體的BIT測試設備，詳細介紹了系統設計方案。
- 關(guān)鍵字： 內裝測試 實(shí)時(shí)監測 ADuC812 故障診斷 201001
基于LabVIEW的機械振動(dòng)信號分析系統的開(kāi)發(fā)
- 結合旋轉機械設備的典型故障特征，設計開(kāi)發(fā)了一個(gè)基于LabVIEW的信號分析處理系統, 可以實(shí)現常用的信號分析處理方法。該系統可讀取、存儲不同類(lèi)型的數據格式，對采集的信號從幅域、時(shí)域、頻域三個(gè)不同角度進(jìn)行分析處理，提取信號的特征信息，用于旋轉機械故障的初步診斷。通過(guò)對轉子、軸承、齒輪的實(shí)際振動(dòng)數據進(jìn)行分析處理，驗證了系統的正確性與可行性。
- 關(guān)鍵字： 虛擬儀器 LabVIEW 故障診斷 振動(dòng)信號分析處理 201001
芯片高速仿真的創(chuàng )新
- 目前IC設計中，軟件工作量越來(lái)越大(圖1)，在65nm設計成本統計中，軟件已占50%，驗證占30%，其他還有樣機、確認(Validation)、物理、架構。隨著(zhù)工藝節點(diǎn)向45nm、32nm、22nm發(fā)展，軟件的比例將超過(guò)50%，同時(shí)驗證工作量將維持30%左右?？梢?jiàn)，由于軟件的增長(cháng)將使軟硬件協(xié)同仿真成為一個(gè)重要環(huán)節。當前，CPU、圖形、無(wú)線(xiàn)、DTV/STB、數碼相機/攝像機、多功能打印機等芯片需要軟硬件協(xié)同仿真。 在Gary Smith EDA公司《2009年RTL市場(chǎng)趨勢分析報告》中指出，E
- 關(guān)鍵字： IC設計 EDA 65nm 201001
新產(chǎn)品
- 一些新興公司的產(chǎn)品引起了人們的關(guān)注。 MaxLinear的電視/機頂盒調諧器IC 通過(guò)采用CMOS寬帶RF/混合信號SoC技術(shù)，MaxLinear公司推出用于DTV、有線(xiàn)電視和移動(dòng)用調諧器—解調器SoC。該公司產(chǎn)品系列分為三類(lèi)：滿(mǎn)足多標準的TV調諧器MxL30xRF系列;有線(xiàn)電視用TV調諧器與SoC—MxL20xRF、MxL241SF;用于移動(dòng)電視的MxL751SM，是符合ISDB-T的調諧器—解調器，在LNA(低噪聲放大器)、SNR(信噪比)與成本方面
- 關(guān)鍵字： Sequans TD-LTE USB網(wǎng)卡 201001
電源產(chǎn)品的趨勢與創(chuàng )新
- 電源及電源管理解決方案是熱門(mén)，也是這次Aisapress的熱門(mén)話(huà)題之一。 首先，Fairchild擺開(kāi)了電源解決方案龍門(mén)陣。 外部適配器 據Darnell公司的分析，AC-DC外部電源2009年達到22億件，2013年將達到33億件，年復合增長(cháng)率可為11.1%(圖1)。 從應用角度看(圖2)，最大的增長(cháng)部分是通信，主要由移動(dòng)手機驅動(dòng)，預計2013年將達到23億件，其中小于75W的產(chǎn)品主要由通信市場(chǎng)驅動(dòng)。 Fairchild的創(chuàng )新產(chǎn)品有75W以下PWM控制器。通常，
- 關(guān)鍵字： Fairchild 電源管理 外部電源 PWM控制器 201001
IC測試的創(chuàng )新
- EDA工具加速I(mǎi)C測試 隨著(zhù)IC制程節點(diǎn)從90nm向65nm和45nm延伸，需要測試的數據量會(huì )激增，相應地會(huì )帶來(lái)測試成本的提高(圖1)。例如，從90nm到65nm時(shí)，由于增加了門(mén)數，傳統的測試量急劇增加;同時(shí)，在速(at-speed)測試也成倍增加，這是由于時(shí)序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時(shí)代，在前兩者的基礎上，又增加了探測新缺陷的測試。 為了提高測試效率，對測試數據的壓縮持續增長(cháng)。據ITRS(國際半導體技術(shù)發(fā)展路線(xiàn)圖)預測(圖2)，2010年的壓縮需求比2009年翻番。
- 關(guān)鍵字： EDA IC測試 65nm 45nm 201001
2010請帶著(zhù)希望上路
- 對于整個(gè)電子產(chǎn)業(yè)來(lái)說(shuō)，2009是個(gè)幸福缺失的年份，不管我們如何痛恨這一場(chǎng)金融風(fēng)暴帶來(lái)的腥風(fēng)血雨，至少我們已經(jīng)撕去了屬于2009年最后一頁(yè)日歷，迎來(lái)了嶄新年輪的開(kāi)始。既然最黑暗的時(shí)刻都已經(jīng)挺過(guò)來(lái)了，未來(lái)總會(huì )比現在光明些吧。 從2008年四季度開(kāi)始的這場(chǎng)金融風(fēng)暴，在重創(chuàng )了全球經(jīng)濟的同時(shí)，不可避免地將整個(gè)電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展水平拉回了2001年。經(jīng)歷過(guò)2008年的全行業(yè)深淵性墜落之后，在一片肅殺悲觀(guān)中到來(lái)的2009堪稱(chēng)整個(gè)產(chǎn)業(yè)驚心動(dòng)魄的一年，多家分析機構不斷下調對半導體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的預期，最可怕的數據預測整
- 關(guān)鍵字： 邏輯電路 微處理器 存儲器 摩爾定律 201001
201001介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條201001!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對201001的理解，并與今后在此搜索201001的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
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