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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測試技術(shù)

測試技術(shù) 文章進(jìn)入測試技術(shù)技術(shù)社區

淺析射頻標識RFID測試技術(shù)

中心議題：淺析射頻標識RFID測試技術(shù)解決方案：預一致性測試有助于產(chǎn)品一致性測試使用 RTSA可以很容易地測量 TAT隨著(zhù)閱讀器與標簽價(jià)格的降低和全球市場(chǎng)的擴大，射頻標識 RFID(以下簡(jiǎn)稱(chēng)RFID)的應用與日俱增。標簽既可
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高速PCB互連設計中的測試技術(shù)

互連設計技術(shù)包括測試、仿真以及各種相關(guān)標準，其中測試是驗證各種仿真分析結果的方法和手段。優(yōu)秀的測試方法和手段是保證互連設計分析的必要條件，對于傳統的信號波形測試，主要應當關(guān)注的是探頭引線(xiàn)的長(cháng)度，避免pi
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CAN總線(xiàn)系統測試技術(shù)

引言隨著(zhù)汽車(chē)電子技術(shù)的發(fā)展，汽車(chē)上所用的電控單元不斷增多，電控單元之間信息交換的需求促進(jìn)了車(chē)用總線(xiàn)技術(shù)的發(fā)展。CAN總線(xiàn)即控制器局域網(wǎng)總線(xiàn)，由Bosch公司于1981年制定，主要目的為用作汽車(chē)的高速動(dòng)力總線(xiàn)、中速
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IA服務(wù)器測試技術(shù)的策略與方法

服務(wù)器對比測試要點(diǎn)　　本節內容主要是為了讓用戶(hù)快速了解服務(wù)器測試策略與方法，能夠用于選型測試中。在此僅僅以最重要的性能、內存緩存性能、數據庫網(wǎng)絡(luò )應用輔以基本對比測試來(lái)考察不同服務(wù)器間的性能。具體測試技
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基于A(yíng)FDX總線(xiàn)的端系統測試技術(shù)

摘要：AFDX總線(xiàn)技術(shù)是目前航空機載設備交換式網(wǎng)絡(luò )的代表，也是近年來(lái)大型飛機航空機載設備首選的總線(xiàn)通信網(wǎng)絡(luò )。為了實(shí)現某設備AFDX總線(xiàn)主要功能和性能檢測，簡(jiǎn)要介紹了AFDX總線(xiàn)技術(shù)的基本原理與通信特點(diǎn)，通過(guò)使用VC
關(guān)鍵字： AFDX 總線(xiàn) 系統測試技術(shù)

基于JTAG的互連測試技術(shù)

一、引言隨著(zhù)微電子技術(shù)進(jìn)入超大規模集成電路（VLSI）時(shí)代，VLSI電路的高度復雜性及多層印制板、表面貼裝（SMT）、圓片規模集成（WSI）和多芯片模塊（MCM）技術(shù)在電路系統中的運用，使得電路節點(diǎn)的物理可訪(fǎng)問(wèn)性正逐
關(guān)鍵字： JTAG 互連測試技術(shù)

虛擬儀器測試技術(shù)在汽車(chē)電動(dòng)助力轉向系統上的應用

一、虛擬儀器的概括根據現在的汽車(chē)工程測試的各種情況，建立靈活變化、功能強大、成本低廉的汽車(chē)電器測試系統是我們現在汽車(chē)測試的迫切要求，這種測試系統可以按照每一工程測試的要求，自由增減測試系統配置，通過(guò)各
關(guān)鍵字：虛擬儀器測試技術(shù) 汽車(chē)電動(dòng) 助力

DDR測試技術(shù)介紹與工具分析

DDR是雙倍數據速率的SDRAM內存，如今大多數計算機系統、服務(wù)器產(chǎn)品的主流存儲器技術(shù)，并且不斷向嵌入式系統應用領(lǐng)域滲透。孰不知，隨著(zhù)iPhone等大牌智能手機的采納，DDR內存儼然成為智能手機轉變的方向之一，例如韓國
關(guān)鍵字： DDR 測試技術(shù) 分析

鉛酸蓄電池維護與測試技術(shù)發(fā)展趨勢分析

摘要：介紹了影響蓄電池使用壽命的因素，并就容量測試技術(shù)的現狀進(jìn)行了分析，結合實(shí)際介紹了蓄電池容量測試技術(shù)的發(fā)展趨勢。關(guān)鍵詞：蓄電池；使用壽命；容量測試技術(shù)；發(fā)展趨勢0 引言隨著(zhù)信息、能源、電子技術(shù)
關(guān)鍵字：鉛酸測試技術(shù) 發(fā)展趨勢分析

一種新的基于時(shí)域方法的EMC測試技術(shù)

本文討論了寬帶時(shí)域測量技術(shù)應用于測量電磁干擾(EMI) 時(shí)所具備的優(yōu)勢。寬帶時(shí)域測量技術(shù)用于EMI測量時(shí)，其數字信號處理能力使它能夠實(shí)時(shí)仿真傳統模擬設備的各種測量模式，如峰值檢測模式、平均值檢測模式、 RMS檢測模
關(guān)鍵字： EMC 時(shí)域方法測試技術(shù)

現代實(shí)時(shí)頻譜測試技術(shù)

前言19世紀60年代,James Maxwell 通過(guò)計算推斷出存在著(zhù)能夠通過(guò)真空傳輸能量的電磁波。此后工程師和科學(xué)家們一直在尋求創(chuàng )新方法利用無(wú)線(xiàn)電技術(shù)。接下來(lái),隨著(zhù)軍事和通信領(lǐng)域技術(shù)的深入發(fā)展，20世紀無(wú)線(xiàn)電技術(shù)一直在不
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LED照明測試技術(shù)分析――驅動(dòng)電源可靠性和能效成關(guān)

近幾年LED作為新型節能光源在全球和中國都贏(yíng)得得了很高的投資熱情和極大關(guān)注，并由戶(hù)外向室內照明應用市場(chǎng)滲透，中國也涌現出大大小小上萬(wàn)家LED照明企業(yè)。讓LED照明大放異彩的最主要原因正是其宣揚的具有節能、環(huán)保、
關(guān)鍵字： LED 照明測試技術(shù) 分析

新環(huán)境下如何應對嚴峻的微波與射頻測試技術(shù)挑戰

由專(zhuān)注于微波、射頻、無(wú)線(xiàn)技術(shù)的行業(yè)門(mén)戶(hù)網(wǎng)站，微波射頻網(wǎng)與中國歷史最悠久、最權威的中國電子展聯(lián)合主辦的“2012微波射頻測試與測量研討會(huì )”將于4月11日在深圳會(huì )展中心6樓正式啟動(dòng)，本次會(huì )議主題將圍繞
關(guān)鍵字：環(huán)境測試技術(shù) 射頻

嵌入式系統的存儲測試技術(shù)及無(wú)線(xiàn)傳輸應用

存儲測試技術(shù)是在特殊環(huán)境下記錄運動(dòng)物體參數的最有效的手段。本文介紹了基于A(yíng)RM7 LPC21xx開(kāi)發(fā)存儲測試系統的方法。Philips公司16/32位微控制器LPC21xx是基于支持實(shí)時(shí)仿真和嵌入式跟蹤的16/32 位ARM7TDMIS CPU的微
關(guān)鍵字：嵌入式系統存儲測試技術(shù) 無(wú)線(xiàn)傳輸

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測試技術(shù)介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條測試技術(shù)!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對測試技術(shù)的理解，并與今后在此搜索測試技術(shù)的朋友們分享。創(chuàng )建詞條

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CAN總線(xiàn)系統測試技術(shù)

IA服務(wù)器測試技術(shù)的策略與方法

基于A(yíng)FDX總線(xiàn)的端系統測試技術(shù)

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最新測試技術(shù)在芯片良率提高中發(fā)揮新作用

虛擬儀器測試技術(shù)在汽車(chē)電動(dòng)助力轉向系統上的應用

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