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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測試技術(shù)

熱烈慶祝東方集成成為“安捷倫大中華南區IET產(chǎn)品”總代理

  • 自2012年11月1日起，北京東方中科集成科技股份有限公司繼華北、華東地區后，正式成為安捷倫華南地區授權分銷(xiāo)商!并成為安捷倫工業(yè)測試產(chǎn)品的華南地區的平臺，為華南地區的工業(yè)及現場(chǎng)維護類(lèi)用戶(hù)提供全套的測試解決方案，同時(shí)也支持華南地區的二級分銷(xiāo)商的銷(xiāo)售和技術(shù)支持工作!東方集成公司將依托自身的服務(wù)優(yōu)勢
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網(wǎng)絡(luò )化測試技術(shù)淺談

  • 1 引 言隨著(zhù)生產(chǎn)過(guò)程自動(dòng)化控制要求的不斷提高，傳統測試系統的缺點(diǎn)越來(lái)越突出。① 儀器間的匹配問(wèn)題以及儀器間的測量精度使整個(gè)測試系統精度的提高受到限制;② 傳統測試系統由多臺測量?jì)x器組成，信號的傳輸速度受到
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基于A(yíng)FDX總線(xiàn)的終端系統測試技術(shù)

對使用新型測試技術(shù)和儀器的幾點(diǎn)忠告

  • 隨著(zhù)半導體制造商向65納米技術(shù)轉移并展望更小節點(diǎn)，嚴峻的測試挑戰也開(kāi)始浮出水面?，F在，工藝開(kāi)發(fā)工程師們必須放棄由硅、二氧化硅、多晶硅和鋁材料構成的良性世界，而將自己置于由硅鍺(SiGe)、絕緣體上硅(SOI)、亞硝
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高密度封裝技術(shù)推動(dòng)測試技術(shù)發(fā)展

  • 自80年代中后期開(kāi)始，IC（集成電路）封裝技術(shù)就不斷向著(zhù)高度集成化、高性能化、多引線(xiàn)和細間距化方向發(fā)展，并驅使著(zhù)...
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LTE測試技術(shù)的基礎知識

  • 長(cháng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )給測試設備供應商提出了若干挑戰。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線(xiàn)配置以最大
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電磁兼容設計及測試技術(shù)分析

  • 當前，日益惡化的電磁環(huán)境，使我們逐漸關(guān)注設備的工作環(huán)境，日益關(guān)注電磁環(huán)境對電子設備的影響，從設計開(kāi)始，融入...
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淺析實(shí)時(shí)頻譜測試技術(shù)原理及應用

  • 前言19世紀60年代,James Maxwell 通過(guò)計算推斷出存在著(zhù)能夠通過(guò)真空傳輸能量的電磁波。此后工程師和科學(xué)家們一直在尋求創(chuàng )新方法利用無(wú)線(xiàn)電技術(shù)。接下來(lái),隨著(zhù)軍事和通信領(lǐng)域技術(shù)的深入發(fā)展，20世紀無(wú)線(xiàn)電技術(shù)一直在不
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PCB通用的測試技術(shù)

  • 一、引言前隨著(zhù)使用大規模集成電路的產(chǎn)品不斷出現，相應的PCB的安裝和測試工作已越來(lái)越重要。印制電路板的通用測試是PCB行業(yè)傳統的測試技術(shù)、最早的通用電性測試技術(shù)可追溯至七十年代末八十年代初，由于當時(shí)的元器件
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EPON測試技術(shù)

  • 1 引言伴隨著(zhù)寬帶接入技術(shù)的迅速發(fā)展，各種新興的寬帶接入技術(shù)如雨后春筍般不斷涌現。PON技術(shù)是繼DSL技術(shù)和Cable技術(shù)后，又一個(gè)理想的接入平臺，PON可以直接提供光業(yè)務(wù)或FTTH業(yè)務(wù)。EPON(以太網(wǎng)+無(wú)源光網(wǎng)絡(luò ))是一種新型
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關(guān)于IP網(wǎng)絡(luò )測試技術(shù)與方法探討

  • 一個(gè)高品質(zhì)的網(wǎng)絡(luò )要通過(guò)業(yè)務(wù)設計和定位、網(wǎng)絡(luò )設計、設備選型、工程建設、方案驗證和持續優(yōu)化、維護管理6個(gè)環(huán)節來(lái)保證，其中設備選型、方案驗證和優(yōu)化主要通過(guò)選型測試和網(wǎng)絡(luò )測試實(shí)現。為此中國電信于2004年初和2005年
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開(kāi)關(guān)電源轉換器的設計測試技術(shù)

  • 建模、仿真和CAD是一種新的、方便且節省的設計工具。為仿真開(kāi)關(guān)電源，首先要仿真建模。仿真建模中應包括...
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整合LED測試技術(shù)解決方案

  • 阻礙LED照明應用美好前程的三大難題盡管不斷有業(yè)內人士拋出LED行業(yè)存在各種隱憂(yōu)的言論，但仍然無(wú)法阻擋廣大企業(yè)想吃到這塊“燙手山芋”的熱情。熱情需要理性來(lái)支撐，廣大開(kāi)發(fā)者必須在實(shí)際開(kāi)發(fā)和設計過(guò)程中
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虛擬儀器發(fā)展趨勢及其對軍用測試技術(shù)的影響

  • 1　引言從1986年NI公司提出VI概念到現在，經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展，不僅VI技術(shù)本身的內涵不斷豐富，外延不斷擴展，在軍事和民用領(lǐng)域均得到了廣泛的應用，而且對現代測控技術(shù)產(chǎn)生了深遠的影響。例如，VI原來(lái)最核心的思想是利
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直流局部放電測試技術(shù)在電容器老化判斷中的應用

  • 摘要本文在有較強環(huán)境干擾情況下通過(guò)對電容器進(jìn)行一系列直流局部放電試驗，比較不同工作壽命的同批電容器的局部放電信號的典型差異，初步得出不同工作壽命的電容器的直流局部放電最大放電量和放電次數有較明顯的差異
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測試技術(shù)介紹

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