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微波通信天線(xiàn)選擇與優(yōu)化方法研究

  • 簡(jiǎn)述微波天線(xiàn)在通信中應用的廣泛性和重要性,在對第一菲涅爾區、衰落因子和相對余隙等重要因素詳細分析的基礎上,提出選擇微波天線(xiàn)時(shí)應注意的問(wèn)題,并提出采用分集接收、自適應均衡、阻抗匹配和避雷保護等技術(shù)改善微波天線(xiàn)的性能,進(jìn)而提出微波天線(xiàn)選擇的優(yōu)化方案。
  • 關(guān)鍵字: 方法研究  優(yōu)化  選擇  天線(xiàn)  微波通信  

基于灰度共生矩陣的圖像分割方法研究

  • 所謂圖像分割就是指把圖像分成各具特性的區域,并提取出感興趣目標的技術(shù)和過(guò)程。它是數字圖像處理中的關(guān)鍵技術(shù)之一,是進(jìn)一步進(jìn)行圖像識別、分析和理解的基礎。目前圖像分割方面現有的算法非常多,將它們進(jìn)行分類(lèi)的
  • 關(guān)鍵字: 灰度  方法研究  矩陣  圖像分割    

短溝道MOSFET散粒噪聲測試方法研究

  • 近年來(lái)隨著(zhù)介觀(guān)物理和納米電子學(xué)對散粒噪聲研究的不斷深入,人們發(fā)現散粒噪聲可以很好的表征納米器件內部電子傳輸特性。由于宏觀(guān)電子元器件中也會(huì )有介觀(guān)或者納米尺度的結構,例如缺陷、小孔隙和晶粒等,因而也會(huì )
  • 關(guān)鍵字: MOSFET  噪聲測試  方法研究    

基于C++TCL PLI聯(lián)合仿真下的芯片驗證方法研究

  • 0 引 言
    當今社會(huì ),芯片技術(shù)與人們的生活密切相關(guān),在各種電子產(chǎn)品中都有芯片的身影,而且,它們往往是電子產(chǎn)品關(guān)鍵的核心技術(shù)。制造芯片的流程非常復雜而且資源投入巨大,保證芯片的設計質(zhì)量非常重要。驗證工
  • 關(guān)鍵字: TCL  PLI  聯(lián)合仿真  方法研究    

基于符號模擬的電路中錯誤診斷方法研究

  • 錯誤診斷是在邏輯芯片中預測潛在錯誤點(diǎn)的過(guò)程。為了快速有效地診斷電路中的錯誤,提出一種將符號模擬技術(shù)應用到基于區域模型的錯誤診斷法上的新思想,具體方法是通過(guò)對要診斷的電路進(jìn)行區域劃分,然后利用符號模擬方法依據兩種測量標準對各個(gè)區域候選者進(jìn)行可疑度的等級排序,從而對電路中所含錯誤進(jìn)行判斷??梢啥仍礁叩膮^域,其作為錯誤候選者的可能性越大。該方法利用符號模擬技術(shù),不需要對向量空間進(jìn)行窮盡的列舉,因而在空間和時(shí)間上是有效的。
  • 關(guān)鍵字: 符號  電路  方法研究  模擬    

一種新穎的電力變壓器故障診斷方法研究

  • 本文在傳統方法的基礎上,提出了一種新的基于聯(lián)合時(shí)頻分析的故障診斷方法。該方法首先根據濾波后的沖擊信號得到差異電流信號,然后對差異信號進(jìn)行聯(lián)合時(shí)頻分析,得到時(shí)頻分布圖。不同的時(shí)頻分布圖反映不同的故障特征,不同的故障反映在時(shí)頻分布圖上也是不同的。通過(guò)建立故障時(shí)頻分布圖數據庫,就可以實(shí)現電力變壓器故障的自動(dòng)定位、識別。由于該方法完全由計算機完成,較傳統方法準確性高,應用前景更為廣闊。
  • 關(guān)鍵字: 電力變壓器  故障診斷  方法研究    

基于改進(jìn)的遺傳算法軟硬件劃分方法研究

  • 隨著(zhù)芯片集成度的飛速發(fā)展,集成電路的設計已經(jīng)進(jìn)入了片上系統(Soc,System on chip)的時(shí)代。傳統的軟硬件分開(kāi)設計的方法已經(jīng)不在適合Soc設計的需要,而軟硬件協(xié)同設計技術(shù)很好解決了傳統設計方法所不能解決的問(wèn)題。軟硬件劃分方法是軟硬件協(xié)同設計中的一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題,從基于多目標的遺傳算法出發(fā),主要做了兩方面的改進(jìn):一方面引入小生境技術(shù),進(jìn)一步優(yōu)化了算法;另一方面是引入精英保持策略,保證了算法的收斂性。
  • 關(guān)鍵字: 算法  軟硬件  方法研究    

一種3G無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )質(zhì)量管理方法研究

  • 為了評價(jià)3G無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )――UTRAN(UMTS Terrestrial Radio Access Network,陸地無(wú)線(xiàn)接入網(wǎng))網(wǎng)絡(luò )質(zhì)量,提出了一個(gè)UTRAN網(wǎng)絡(luò )質(zhì)量評價(jià)指標體系。在該指標體系的基礎之上,將模糊數學(xué)理論引入網(wǎng)絡(luò )管理領(lǐng)域,根據模糊綜合評價(jià)算法建立了UTRAN網(wǎng)絡(luò )質(zhì)量模糊綜合評價(jià)模型。最后應用此模型,對UTRAN試驗網(wǎng)絡(luò )的測試結果進(jìn)行了模糊綜合評價(jià),得到了UTRAN網(wǎng)絡(luò )質(zhì)量的量化評價(jià)結果。
  • 關(guān)鍵字: 方法研究  質(zhì)量管理  無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )  3G  一種  

基站發(fā)射系統匹配測試方法研究

  • 基站發(fā)射系統是移動(dòng)通信系統的重要組成部分,其性能優(yōu)劣對整體移動(dòng)通信質(zhì)量的影響至關(guān)重要。根據移動(dòng)網(wǎng)運行質(zhì)量統計結果分析,造成移動(dòng)通信質(zhì)量指標下降的主要原因來(lái)自天饋線(xiàn)系統(約占一半以上),而在天饋線(xiàn)系統中
  • 關(guān)鍵字: 測試  方法研究  匹配  系統  發(fā)射  基站  網(wǎng)絡(luò )  

單片機系統RAM的測試方法研究

  • 在各種單片機應用系統中,存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統的正常工作。為了提高系統的可靠性,對系統的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的。通過(guò)測試可以有效地發(fā)現并解決因存儲器發(fā)生故障對系統帶來(lái)的破壞問(wèn)題。本文針對
  • 關(guān)鍵字: 方法研究  測試  RAM  系統  單片機  

基于并聯(lián)技術(shù)的三相功率因數校正方法研究

  • 引言
    電力電子裝置的廣泛應用,給公用電網(wǎng)造成嚴重污染,諧波和無(wú)功問(wèn)題日益受到重視。為了減輕電力污染的危害程度,許多國家紛紛制定了相應的標準,如國際電工委員會(huì )的諧波標準IEEE555―2和IEC―1000―3―2等。
  • 關(guān)鍵字: 校正  方法研究  因數  功率  技術(shù)  三相  基于  電源  

路面破損圖像實(shí)時(shí)檢測方法研究

  • 摘要:提出一種路面破損圖像實(shí)時(shí)檢測的實(shí)現方法。對高速采集的路面圖像去模糊后再進(jìn)行裂紋特征分析,設計了一種基于鄰域像素灰度值比較的特征快速提取方法,利用鄰域相關(guān)及連貫性等知識智能去除虛假裂紋,從而提取真
  • 關(guān)鍵字: 路面  方法研究  圖像  實(shí)時(shí)檢測    

FLASH存儲器的測試方法研究

  • 1.引言 隨著(zhù)當前移動(dòng)存儲技術(shù)的快速發(fā)展和移動(dòng)存儲市場(chǎng)的高速擴大,FLASH型存儲器的用量迅速增長(cháng)。FLASH芯片由于其便攜、可靠、成本低等優(yōu)點(diǎn),在移動(dòng)產(chǎn)品中非常適用。市場(chǎng)的需求催生了一大批FLASH芯片研發(fā)、
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嵌入式系統降低功耗的方法研究

  • 嵌入式系統降低功耗的方法研究,摘要 低功耗嵌入式系統設計的能量消耗問(wèn)題是近幾年來(lái)在嵌入式系統設計中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn),它嚴重制約著(zhù)嵌入式系統的應用及發(fā)展。本文以降低嵌入式系統所耗電能為目標,提出了嵌入式系統降低功耗的綜合措施,并對
  • 關(guān)鍵字: 方法研究  功耗  降低  系統  嵌入式  

高速工業(yè)平縫機轉速測量方法研究

  • 摘要:針對寬調速范圍高速工業(yè)平縫機無(wú)刷直流電機的轉速測量方法進(jìn)行研究。分析了脈沖計數法與脈沖周期法的原理與實(shí)現,測量精度與轉速的關(guān)系,提出在不同的速度段采用不同的速度測量方法,以保證在整個(gè)調速范圍內都
  • 關(guān)鍵字: 工業(yè)  方法研究  平縫機  轉速測量    
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