HAC技術(shù)在GSM手機中的應用
作者：安榮邦 諾基亞中國投資有限公司
時(shí)間：2009-07-08
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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圖5和圖6 中的圖是測試區域的電磁場(chǎng)的強度。比較圖5和圖6，可以明顯地看出圖6中的電磁場(chǎng)的值比較低。(請參照表1)
為了進(jìn)一步驗證這種技術(shù)的有效性，我們制作了驗證用的實(shí)際模型來(lái)驗證我們的設計思想。圖7是增加了新技術(shù)的驗證用模型圖片。表2是電磁場(chǎng)測試結果。圖8 是天線(xiàn)諧振點(diǎn)和發(fā)射效率的比較圖。上面是諧振點(diǎn)的比較，下面部分是發(fā)射效率的比較。從測試結果中可以看出，這種技術(shù)和我們想像的一樣。比較計算機仿真和測試后發(fā)現，不同點(diǎn)是：1)計算機仿真使用了一個(gè)頻率，而測試中用了兩個(gè)頻率;2)測試頻率和仿真頻率不完全一致。但是，從測試結果可以看出，這種方案是工作的，而且能同時(shí)降低不同頻段在測試區域的電磁場(chǎng)的值，也不影響天線(xiàn)的諧振點(diǎn)和發(fā)射效率，和我們設想的完全一致。
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