電壓比較器VIO的開(kāi)環(huán)測試 作者: 時(shí)間:2005-05-11 來(lái)源: 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢(xún) 收藏 輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)比較器)一個(gè)重要的電性能參數,GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規定值時(shí),兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DUT,Device Under Test)-輔助運放”的測試模式,測試原理圖見(jiàn)圖1。 在輔助運放A的作用下,整個(gè)系統構成穩定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò ),從而使VD=0,則 VC = -VS1
評論