泛華測控受邀參加12th國際電子測量與儀器學(xué)術(shù)會(huì )議
日前,由中國電子學(xué)會(huì )、IEEE Beijing Section主辦的第12屆國際電子測量與儀器學(xué)術(shù)會(huì )議(12thICEMI)在青島落下帷幕,北京中科泛華測控技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng):泛華測控)作為受邀企業(yè)全程參與了會(huì )議。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/277844.htm本著(zhù)“產(chǎn)學(xué)研”合作的目的,泛華測控現場(chǎng)向參會(huì )嘉賓展示了適用于教學(xué)演示用的“多功能數據采集儀”,該產(chǎn)品在教學(xué)中可通過(guò)直觀(guān)的數據和動(dòng)態(tài)圖像的變化,輕松實(shí)現電壓采集、電壓輸出、電流輸出、溫度采集、超聲波測距等測試項目的演示,吸引了眾多高校師生的目光。

泛華測控多功能數據采集儀
會(huì )議期間,泛華另一款產(chǎn)品“便攜式測振儀”引起了英國劍橋光電子與傳感器組教授、主任初大平的興趣,他來(lái)到展位前,認真觀(guān)看了產(chǎn)品的外形、軟件界面,并詢(xún)問(wèn)了產(chǎn)品的使用環(huán)境、功能以及適用領(lǐng)域。“這款產(chǎn)品最大特點(diǎn)的是便攜,適用于實(shí)驗室及外場(chǎng),尤其解決了普通機箱在實(shí)驗室中移動(dòng)不便的問(wèn)題,并擁有專(zhuān)業(yè)的分析算法,提供基本分析和高級分析的功能,非常適合實(shí)驗室、研究所等科研環(huán)境的需要。”泛華現場(chǎng)工程師向其介紹道。

劍橋教授初大平蒞臨泛華展臺參觀(guān)
ICEMI會(huì )議是當前電子測量與儀器領(lǐng)域頂級的學(xué)術(shù)盛會(huì ),兩年一屆,來(lái)自全球的數百位專(zhuān)家、教授、學(xué)者、工程技術(shù)人員齊聚于此,為行業(yè)的發(fā)展、科研的未來(lái)及尖端技術(shù)的前景群策群力。泛華測控作為一家為致力于為各行業(yè)用戶(hù)提供高品質(zhì)測試測量解決方案和成套檢測設備的企業(yè),有責任貢獻出一份力量。


嘉賓與工程師現場(chǎng)熱烈交流
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