ADI:增益規格為何如此不對稱(chēng)?
一些工程師在設計過(guò)程中經(jīng)常會(huì )發(fā)出疑問(wèn)“為什么ADC的額定最小和最大增益誤差相差如此之大?”在此將針對該問(wèn)題進(jìn)行深入探討并給予解答。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/273801.htm為特定應用選擇高速ADC時(shí),增益一般不是關(guān)鍵規格。在設計階段會(huì )更重視噪聲、失真、功耗和價(jià)格。但這些年來(lái),我們了解到,一旦ADC和信號鏈中的所有其他器件得以明確,某些幸運的工程師會(huì )計算復合信號鏈的增益,判斷它會(huì )如何影響系統。ADC通常不是總偏差的主要貢獻者,但某些器件要比其他器件更糟糕。
增益誤差指實(shí)測滿(mǎn)量程與理想滿(mǎn)量程之差,通常用滿(mǎn)量程的百分比表示。 我看到過(guò)的最差增益誤差規格是±10%FS,相當于±1dB。 讓一些用戶(hù)擔心的是,某些ADC的額定最小和最大增益誤差似乎極不對稱(chēng),對此我表示同情,有些器件的最小和最大%FS規格為–6/+2、–1.5/+3.5,甚至–10/0。用戶(hù)對此類(lèi)規格一般不會(huì )感到懊惱,但它們是模數轉換器,并非純粹的模擬器件,因此大多數咨詢(xún)只是想了解其中的原因。
那么,為什么會(huì )有很大差異呢?影響增益誤差的因素有多種,包括基準電壓誤差、基準電壓緩沖器增益誤差、多通道ADC的通道間偏差,但頭號因素卻是真正的標稱(chēng)輸入范圍與額定標稱(chēng)輸入范圍不一致。這聽(tīng)起來(lái)可能很荒謬,但其實(shí)是有一些合理原因的。用戶(hù)可能絕不會(huì )想到的一個(gè)原因是,目標輸入范圍常常是在設計或測定ADC之前設置,因為該器件可能要與另一器件功能相容或引腳相容。最小/最大增益規格為–10/0% FS的器件就是這種情況,其設計必須與原先的設計功能相容,而后者指定2-V p-p輸入范圍,最小/最大增益范圍為–4.2/+4.2%。
如果ADC的增益變化在信號鏈內很顯著(zhù),我建議重新定義標稱(chēng)輸入范圍,使其位于分布的中心。對于–10/0%FS器件,只需將標稱(chēng)輸入范圍調低5%,即設置為1.9Vp-p。希望以上說(shuō)明有助于澄清困惑。
作者

David Buchanan于1987年獲得美國弗吉尼亞大學(xué)電氣工程學(xué)士學(xué)位。他先后在STMicroelectronics、Adaptec和ADI從事市場(chǎng)營(yíng)銷(xiāo)和應用工程工作,熟悉各種高性能模擬半導體產(chǎn)品。 他目前是ADI公司高速轉換器產(chǎn)品線(xiàn)(美國北卡羅來(lái)納州格林斯博羅)的資深應用工程師。
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