手機芯片UV膠綁定可靠性分析
綜合膠水、人工、設備、工藝等方面粗略估算,底部填充工藝的返修成本是UV膠綁定方法的兩倍以上。
小結
通過(guò)以上試驗數據比較和失效分析可以得知:
1、手機主板的芯片最容易失效的部位是四個(gè)角部的焊點(diǎn);
2、運用UV膠綁定或底部填充工藝,主板抗跌可靠性 要比不使用這兩種工藝的產(chǎn)品高兩倍以上;
3、底部填充工藝對焊點(diǎn)的保護和產(chǎn)品的可靠性的提高 稍?xún)?yōu)于UV膠綁定工藝,但UV膠綁定在實(shí)際應用中 可操作性強,易返修且成本低50%以上;
4、這兩種不同的加強可靠性方法,設計者可以根據需要選擇相應的工藝。
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