相位噪聲測量電路

測量可變頻率振蕩器或合成器的相位噪聲是用昂貴的頻譜分析儀。對于455kHz固定頻率的特定測量，可用便宜的方法實(shí)現。

本文的電路是用相位誤差控制電流調制器，將低噪聲基準振蕩器鎖定到被測信號以此實(shí)現了一個(gè)PLL，電抗調制器用1.4V左右低夾斷電壓結型FET。

Clapp配置中的雙極晶體管構成基準振蕩器。晶體管對振蕩電路的耦合非常弱，所以加在它上面的負載非常小。

跟隨的緩沖器振蕩電路抑制可有的諧波并提供90°相移。正交解調器的輸出dc耦合到示波器（用在X/Y模式）的輸入。

相位噪聲偏差直接顯示在示波器上，一個(gè)完整的圓表示±180°峰值相位噪聲。相位偏差概率分布是Rayleigh和Gaussian正態(tài)分布之間的中間形式（見(jiàn)‘Noise’,Electronics World,Feb.1998,pp.146-151）。

-3dB滾降頻率是3Hz，它由R1和C1確定，此參量是設計的主要點(diǎn)。被測的接收器或收發(fā)器必須供給一個(gè)455kHz輸出。微調電容器C2必須調節到使Tr1柵極上的rms電壓不能超過(guò)100mV。已完成的這個(gè)電路的性能可用一個(gè)FET晶體振蕩器評估。