如何獲得射頻儀器最大功效的最優(yōu)化方法

　　了解你的被測試裝置

　　被測試裝置(DUT)的性能會(huì )顯著(zhù)影響射頻測量。例如，溫度會(huì )影響穩定性，并因此與可重復性密切相關(guān)。許多射頻器件和射頻儀器沒(méi)有對溫度變化的內部補償。因此，它們必須在穩定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測量誤差最小。當前的環(huán)境（例如，空調循環(huán)的開(kāi)啟與關(guān)閉，覆蓋物和面板的移除或增加，處于戶(hù)外或室內，以及是否接近熱源）會(huì )有很大影響。需要注意適當的預熱時(shí)間、被測試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩定性。

　　在有源器件中，過(guò)高的功率會(huì )導致發(fā)熱。例如，在測試高功率放大器時(shí)，被測試器件本身可以保持溫度穩定，但是下游組件會(huì )怎么樣呢？看看是否有開(kāi)關(guān)或衰減器因為放大器的輸出而被加熱。尋找由放大器產(chǎn)生的異常信號，例如諧波。電源線(xiàn)容易受到可直接疊加到輸出的環(huán)境噪聲的影響。而且，測量放大器的線(xiàn)性參數（增益和相位），隨后卻發(fā)現放大器同時(shí)處于被壓縮狀態(tài)是令人沮喪的。所有這些都影響了射頻測量的精度。在器件被測試前對其本身、其運作方式以及它對射頻測量參數的影響進(jìn)行了解，會(huì )得到有意義的結果。

　　識別出現不確定性的方面

　　僅僅匹配射頻測試設備的數據表格說(shuō)明與被測試裝置的測試要求是不夠的。這在更高頻率或者失配的射頻測量中尤其明顯，除其它外，還有放大不確定性。在測量的每個(gè)步驟中引入的誤差會(huì )使總體結果出現偏差。當一個(gè)不正確的測量結果出現時(shí)，你應該在質(zhì)疑被測量裝置存在問(wèn)題之前首先懷疑測量出現錯誤。

　　請在測量過(guò)程中了解儀器儀表以及被測試裝置的關(guān)鍵操作規范。在其它規范中，了解匹配，頻率響應，噪聲系數和功率。同時(shí)，也要了解這些參數的容許誤差。請記住如下要素：

　　射頻開(kāi)關(guān)重復性，老化和功率處理 耦合器的指向性，電纜的相穩定性以及適配器的插入損耗和回波損耗 電路板線(xiàn)路的阻抗質(zhì)量，器件插座和電路板的開(kāi)關(guān)轉換 測量中的電磁干擾（EMI）輻射和耦合

　　一些通常沒(méi)有被認真考慮的項目，例如冷卻、諧波、激勵以及其他非線(xiàn)性行為也能夠增加測量中的誤差。審視整個(gè)測試設備并確定每一塊的誤差分布以獲得對預期測量不確定性的實(shí)際評價(jià)。找出誤差原因和它們對精度、重復性和不確定性的影響。這可以得到更好的結果，使您能更加有效和有意義地分配預算和資源。

　　注意所有的連接和組件

　　開(kāi)發(fā)、設計、測試以及將產(chǎn)品推廣到市場(chǎng)這一系列的花費是一筆相當大的投資。一個(gè)公司的成敗與否取決于產(chǎn)品的性能。在高性能的射頻測試設備上的支出是有重要意義的，因為這能夠表明產(chǎn)品達到或超過(guò)與市場(chǎng)份額掛鉤的關(guān)鍵技術(shù)要求。此外它還代表了一種競爭優(yōu)勢和公司收入的主要增加來(lái)源。

　　然而，僅有一個(gè)高性能的，昂貴的，經(jīng)過(guò)良好校準的測試系統和同樣性能顯著(zhù)的被測試器件是不夠的，還應該對被測試器件測試系統中的附屬連接和組件的質(zhì)量和重復性給予同等的關(guān)注。也許在關(guān)鍵的技術(shù)指標上十分之一或二的改進(jìn)都是一個(gè)有競爭力的優(yōu)勢。在大多數標準下，源和負載的匹配（駐波比）為1：1.5是不錯的，但是這種程度的匹配將引入一個(gè)錯誤的（大約）為+/-0.35分貝的失配不確定性。一個(gè)0.2分貝的關(guān)鍵技術(shù)指標不可能在這么多的不確定性影響下得到證明。

　　容易忽視的項目例如電纜、開(kāi)關(guān)、衰減器、連接器、插座、適配器和附件會(huì )不利于整個(gè)測量。從需要的精度出發(fā)，然后選擇適合測量的組件。一個(gè)好的經(jīng)驗法則會(huì )使測試系統性能十倍于你正在測試的被測試裝置的參數。

　　有了一個(gè)高品質(zhì)信道，下一步是要采用好的測量方法。請確保你正確清潔和存放電纜、連接器和適配器。即使是最好的電纜和連接器失效了，也要放棄對它們的使用，它們是測試過(guò)程中的耗材。采取措施，盡量減少適配器的使用，確保扭矩扳手和連接規格按常規使用以使熱切換最小。請記住正確的靜電放電（ESD）做法。即使測試系統間最高品質(zhì)的元件和被測試裝置的級聯(lián)也可以引入測量誤差。