一種適用于UHF頻段RFID 近場(chǎng)天線(xiàn)的阻抗測量方法

圖 8 中我們比較了仿真和測量的阻抗值。從阻抗比較的小比例圖可以看出，天線(xiàn)的阻抗隨著(zhù)頻率變化劇烈，這意味著(zhù)匹配后天線(xiàn)的帶寬很窄。在 866MHz，仿真得到的阻抗值為366.9+j467.03(Ohm)，而de-embedding 后測量得到的阻抗值為 460.8+j309(Ohm)，二者的Q值相差了0.6 左右。對于窄帶的匹配，任何Q 值的微小差異都會(huì )導致匹配的失敗，所以精確的阻抗測量對于匹配網(wǎng)絡(luò )的設計至關(guān)重要。這也是我們要對天線(xiàn)測量進(jìn)行de-embedding 技術(shù)處理原因。

　　基于在 866MHz 測量得到的阻抗值，我們可以設計出匹配網(wǎng)絡(luò )。圖9 給出了添加了設計的匹配網(wǎng)絡(luò )后NFRA 的S 參數的仿真和測量值的比較?？梢钥闯?，仿真得到的帶寬為

　　4 結論

　　以一款設計好的 NFRA 為例，闡述了一種低損耗的阻抗測量方法。通過(guò)聯(lián)合測量和de-embedding 技術(shù)，得到了天線(xiàn)阻抗的精確值。在得到的測量阻抗的基礎上，設計出了性能良好的匹配網(wǎng)絡(luò )，匹配后的NFRA 的S 參數仿真值和測量值吻合良好，證明了這種方法的有效性和精確性。