一種適用于UHF頻段RFID 近場(chǎng)天線(xiàn)的阻抗測量方法

　　圖 5 是這款天線(xiàn)加工實(shí)物的阻抗測量照片，可以看出天線(xiàn)直接外接出一根長(cháng)為l 的同軸線(xiàn)和矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀相連接。表格I 給出了天線(xiàn)測量時(shí)的主要尺寸。

　　2 De-embedding 技術(shù)

　　通過(guò)第一節的方法，可以得出帶有同軸線(xiàn)參數的NFRA 回波損耗參數。De-embedding技術(shù)就是用來(lái)消除同軸線(xiàn)參數的影響得到NFRA 真實(shí)阻抗的一種技術(shù)[5,6]。圖6 給出了使用De-embedding 技術(shù)測量的等效電路模型，其中，同軸線(xiàn)被一段長(cháng)為l 的傳輸線(xiàn)等效

　　3 測量結果

　　圖 7 給出的是沒(méi)有添加匹配網(wǎng)絡(luò )時(shí)的S 參數的測量值和仿真結果的比較，可以看出測量的結果和使用HFSS 軟件得到的仿真結果基本吻合。仿真結果的回波損耗在865MHz-868MHz 很小，這將會(huì )導致仿真的阻抗值的不精確?？梢钥闯?，在865MHz-868MHz，

　　仿真得出的回波損耗為0.88dB 而測量得出的回波損耗為1.3dB.