DVDR DL雙層光盤(pán)的全面檢測
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在世界上主要光盤(pán)制造商的密切配合下，現在檢測設備制造商Dr. Schenk已經(jīng)為這種新的光盤(pán)格式找到了一種全面而且獨特的檢測辦法——利用在線(xiàn)和離線(xiàn)檢測設備，實(shí)現對生產(chǎn)工藝過(guò)程的可靠控制，確保雙層光盤(pán)的質(zhì)量。
目前，DVDR DL存在至少兩種不同的生產(chǎn)工藝過(guò)程：翻疊工藝過(guò)程（Inverse Stack）和表面轉化工藝過(guò)程（Surface Transfer (2P)）。Dr. Schenk則為這兩種完全不同的生產(chǎn)過(guò)程提供了獨特的檢測設備。其檢測方法分兩步進(jìn)行，由一種獨特的染料檢測機 ISM.dl 和成品檢測機 ISM.dvd 組合來(lái)實(shí)現，從而確保了按照新的、更高要求的技術(shù)規格對光盤(pán)進(jìn)行檢測。
用同一臺ISM.dl染料檢測機檢測L0和L1層面的染料
新的染料檢測機ISM.dl擁有設計巧妙的光學(xué)結構，盡管在翻疊工藝過(guò)程（Inverse Stack）中L0和L1層上的結構不同，但這種獨特的光學(xué)結構使得ISM.dl仍可以準確一致地檢測到兩個(gè)半盤(pán)L0和L1上的局部缺損，如染料空缺（dye voids）、染料慧星（dye comets）或染料飛濺（dye splashes）等。除此之外，盡管有濺鍍層存在，該獨特的光學(xué)結構仍然可以不帶偏差地評估兩個(gè)半盤(pán)上的光密度。這一特點(diǎn)對于表面轉化工藝過(guò)程（Surface Transfer）中的多層結構的檢測尤其重要。如果只使用常規的染料掃描技術(shù)對L1層面的染料進(jìn)行檢測，其檢測結果中通常同時(shí)含有對L0層面的染料和半透明濺鍍層的掃描結果。而ISM.dl顯示出的對L1層面染料的檢測結果中，則不含有對L0層面和半透明濺鍍層等不希望得到的檢測數據，從而使檢測結果更加準確。
除了上述優(yōu)點(diǎn)之外，這種針對雙層光盤(pán)的染料檢測機還可以檢測緩沖層(Inverse Stack)和半反射層。另外該機器還可以選加對L0層的盤(pán)基厚度進(jìn)行測量的功能。
帶有 ETI 單元（電信號測試）的成品檢測機ISM.dvd
為了保證整盤(pán)的質(zhì)量，需要用成品檢測機 ISM.dvd 對粘合好的光盤(pán)的表面缺損進(jìn)行檢測，ISM.dvd還能同時(shí)對每張DVDR DL成品盤(pán)的一些關(guān)鍵參數進(jìn)行監控。目前，Dr. Schenk 的檢測設備可以完全按照光盤(pán)的規格要求，對盤(pán)基厚度和間隔層厚度進(jìn)行分別測量或合成測量。所有這些測量均在同一個(gè)檢測周期內完成，對光盤(pán)生產(chǎn)周期沒(méi)有任何影響。ISM.dvd 檢測機中使用的高分辨率翹曲檢測單元完全能夠滿(mǎn)足新的高規格的要求，尤其是對光盤(pán)旋轉一周時(shí)翹曲變化的測量。另外 Dr. Schenk 還有一系列的選項配置可以裝備給這類(lèi)檢測機。
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