LTE TDD測試介紹

隨機接入前導

隨機接入前導（Random Access preamble）的設計是LTE對TDD的另一項特殊設計。在LTE中，隨機接入序列采用如下圖所示的5種隨機接入序列格式。其中最后一種隨機接入序列格式是TDD所特有的，由于其長(cháng)度明顯短于其它的4種格式，因此又稱(chēng)為“短RACH”。采用短RACH的原因也是與TDD關(guān)于特殊時(shí)隙的設計相關(guān)的，如同圖中所描述的，短RACH在特殊時(shí)隙的最后部分（即UpPTS）進(jìn)行發(fā)送，這樣利用這一部分的資源完成上行隨機接入的操作，避免占用正常子幀的資源。采用短RACH時(shí)，需要注意的一個(gè)主要問(wèn)題是其鏈路預算所能夠支持的覆蓋半徑，由于其長(cháng)度要大大的小于其它格式的RACH序列，因此其鏈路預算相對較低，相應的適用于覆蓋半徑較小的場(chǎng)景（根據網(wǎng)絡(luò )環(huán)境的不同，約700m～2km）。

RS LTE TDD測試方案

3GPP LTE和之前的系統在空中接口上存在很大的不同，所以對于測試就提出了新的要求?；谠?a class="contentlabel" href="http://dyxdggzs.com/news/listbylabel/label/3G">3G測試領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗和領(lǐng)先地位，Rohde Schwarz 對于UMTS LTE從早期的研發(fā)階段就開(kāi)始跟蹤研究，積累了豐富的經(jīng)驗成果，目前不僅可以為L(cháng)TE FDD，而且也可以為L(cháng)TE TDD無(wú)線(xiàn)設備研發(fā)提供了完整的測試產(chǎn)品線(xiàn)。這些產(chǎn)品包括功率計，頻譜分析儀，信號源，無(wú)線(xiàn)綜測儀，協(xié)議測試儀和射頻一致性測試系統。設備制造商自始自終都可以依賴(lài)于Rohde Schwarz 公司的產(chǎn)品和專(zhuān)家級的支持。Rohde Schwarz 全球的支持網(wǎng)絡(luò )擁有經(jīng)過(guò)專(zhuān)業(yè)培訓的應用工程師，從而可以提供全方位的客戶(hù)支持。

由于3GPP LTE標準的發(fā)展還未最終完成， R S公司在開(kāi)發(fā)LTE選件時(shí)保持了高度的靈活性，軟件會(huì )定期更新，確保測試儀表依據的標準和最新發(fā)展保持一致，使它們滿(mǎn)足3GPP LTE 未來(lái)開(kāi)發(fā)的要求。下面針對在LTE早期的研發(fā)中一些重要的測試項目進(jìn)行介紹：

如何靈活地對LTE射頻和基帶信號進(jìn)行模擬產(chǎn)生和分析，

如何對不同的MIMO模式進(jìn)行進(jìn)行測試，

如何在協(xié)議棧開(kāi)發(fā)的早期就進(jìn)行測試，使之符合一致性的要求。