電渦流傳感器陣列測試技術(shù)
采用陣列式傳感器,不需使用機械式探頭掃描即可實(shí)現大面積范圍的高速測量,且能夠達到與單個(gè)傳感器相同的測量精度和分辨率,有效地提高了傳感器系統的測試速度、測量精度和可靠性,此外,傳感器陣列的結構形式靈活多樣,可以非常方便地對復雜表面形狀的零件進(jìn)行檢測,因此,陣列式傳感器的研究成為當前傳感器技術(shù)研究中的重要內容和發(fā)展方向。
本文基于一種扁平柔性電渦流傳感器陣列,對電渦流傳感器的陣列測試技術(shù)進(jìn)行了研究,采用時(shí)分多路的陣列測試方法,實(shí)現大面積金屬表面的接近式測量。通過(guò)對傳感器探頭的線(xiàn)圈陣列及引線(xiàn)結構形式的合理設計,配合后續的處理電路及計算機控制,完成電渦流位移傳感器陣列的快速、高精度測量及大面積金屬曲面部件位置狀態(tài)的實(shí)時(shí)監測。
1、電渦流檢測的基本原理
電渦流檢測的工作原理是檢測激勵線(xiàn)圈磁場(chǎng)和感應渦流磁場(chǎng)之間的交互作用。當敏感線(xiàn)圈通入交流電流時(shí),線(xiàn)圈周?chē)蜁?huì )產(chǎn)生交變磁場(chǎng),如圖1(a),如果此時(shí)將金屬導體耙材移入此交變磁場(chǎng)中,耙材表面就會(huì )感應出電渦流,而此電渦流又會(huì )產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng),該磁場(chǎng)的方向與原線(xiàn)圈磁場(chǎng)的方向正好相反,而減弱了原磁場(chǎng)。
圖1 電渦流檢測的原理
Z=F(σ,μ,f,x,r)
式中:σ,μ分別是被測金屬導體的電導率和磁導率;f是激勵信號的頻率;x是線(xiàn)圈與金屬導體的距離;r是線(xiàn)圈的尺寸因子,與線(xiàn)圈的結構、形狀以及尺寸相關(guān)。
可見(jiàn),線(xiàn)圈阻抗的變化完整而且唯一地反映了被測金屬導體的電渦流效應。實(shí)際檢測時(shí),對不需要的影響因素加以控制,就可以實(shí)現對上式中某個(gè)相關(guān)量的檢測。作為接近式傳感器,線(xiàn)圈到金屬耙材之間的距離與線(xiàn)圈的阻抗直接相關(guān),而檢測金屬表面或近表面的缺陷時(shí),缺陷的存在將引起被測導體電導率和磁導率的變化,進(jìn)而使線(xiàn)圈的阻抗參數發(fā)生改變。
另一種方法是雙線(xiàn)圈檢測,如圖1(b),通過(guò)使用另外一個(gè)線(xiàn)圈作為檢測線(xiàn)圈,檢測這兩個(gè)磁場(chǎng)的疊加效果。根據法拉第電磁感應定律,檢測線(xiàn)圈中將會(huì )產(chǎn)生一個(gè)感應電動(dòng)勢:
通過(guò)測量檢測線(xiàn)圈中產(chǎn)生的電壓即可非常容易地得到磁場(chǎng)的變化情況。
2、電渦流陣列測試技術(shù)
2.1 電渦流陣列的形式
與其它一些傳感器相比,電渦流傳感器具有一個(gè)比較突出的優(yōu)點(diǎn)——探頭的結構非常簡(jiǎn)單。從電渦流檢測的基本原理可以看出,電渦流傳感器探頭的關(guān)鍵部件是敏感線(xiàn)圈,因此電渦流陣列測試一般都是采用線(xiàn)圈陣列的方法,而不是將多個(gè)獨立的傳感器探頭布置成陣列形式來(lái)使用。針對不同的測試條件和技術(shù)指標要求,線(xiàn)圈陣列可以設計成不同的結構和形式,以實(shí)現復雜形面部件的檢測,但線(xiàn)圈陣列及其匹配電路的針對性設計也帶來(lái)了相對昂貴的成本。
雖然電渦流線(xiàn)圈陣列結構形式的設計靈活多變,但仍然可以根據其檢測方式的不同,大體歸為兩種典型的陣列類(lèi)型。① 基于單線(xiàn)圈檢測的電渦流陣列,如圖2(a)所示,一般是直接在基底材料上制作多個(gè)敏感線(xiàn)圈,布置成矩陣形式的陣列,而且為了消除線(xiàn)圈之間的干擾,相鄰線(xiàn)圈之間要保留足夠的空間。這種電渦流陣列大多用于大面積金屬表面的接近式測量,檢測部件的位置、表面形貌、涂層厚度以及回轉體零件的內外徑等,也可以用來(lái)檢測裂紋等表面缺陷。② 基于雙線(xiàn)圈方式的電渦流陣列檢測,一般設計為一個(gè)大的激勵線(xiàn)圈加眾多小的檢測線(xiàn)圈陣列的形式,如圖2(b),它能夠非常有效地實(shí)現大面積金屬表面上多個(gè)方向的缺陷的檢測,在無(wú)損檢測的應用上具有較大的優(yōu)勢,已基本取代單線(xiàn)圈檢測的應用。除此以外,近年還出現了一種基于電渦流效應的環(huán)繞線(xiàn)圈磁力計陣列L1 ,它實(shí)際上是一種基于雙線(xiàn)圈檢測的陣列類(lèi)型,通過(guò)對激勵線(xiàn)圈和檢測線(xiàn)圈陣列結構的特殊設計,以取得較好的測試性能。
圖2 電渦流陣列形式
電渦流傳感器響應速度快的特點(diǎn)使其能夠很好地采用電子掃描測試的方法,通過(guò)控制模擬開(kāi)關(guān),逐個(gè)掃描全部的陣列單元,實(shí)現傳感器陣列中所有敏感單元的檢測。采用掃描采樣的方法,能夠大大簡(jiǎn)化傳感器的后續電路,降低系統的成本,而且有利于傳感器系統的小型化,但是由于模擬開(kāi)關(guān)的引入,也導致傳感器的測試精度有所下降。
電渦流傳感器陣列測試的關(guān)鍵還在于線(xiàn)圈陣列的引線(xiàn)設計,圖3是幾種常用的基于單線(xiàn)圈檢測原理的引線(xiàn)設計模式。圖3(a)是敏感線(xiàn)圈兩端分別引線(xiàn)的設計模式,圖3(b)是行列垂直掃描式的引線(xiàn)設計。采用行列垂直結構形式的目的是為了減少傳感器陣列的外接引線(xiàn)數目,這對于傳感器的實(shí)際應用具有重要意義,但同時(shí)又不可避免地帶來(lái)了各陣列單元間的串擾,降低了測量精度。解決串擾的問(wèn)題,最簡(jiǎn)單的方法就是每個(gè)陣列單元單獨引線(xiàn)(圖3(a)),另外也可以將預處理電路與敏感單元集成,做成一體化的集成傳感器單元,而其代價(jià)將是高昂的制作成本。有時(shí)為了提高掃描采樣的速度,還會(huì )采用一種行掃描采樣的方法,即每次掃描一行,從而大大提高傳感器陣列的測試速度,但需要增加預處理電路的數量。
圖3 電渦流陣列測試方法
3、系統實(shí)現與試驗
3.1 電渦流陣列的設計和制作
根據上述的測試方法,設計并制作了一種扁平的柔性電渦流傳感器陣列,如圖4,是傳感器探頭的結構簡(jiǎn)圖。傳感器的探頭由敏感線(xiàn)圈陣列及線(xiàn)圈引線(xiàn)所形成的一條引線(xiàn)電纜組成。在一般的使用情況下,探頭的線(xiàn)圈陣列多設計為與圖2(a)類(lèi)似的平面矩形結構(圖4(a)),這里為了更加方便、可靠地實(shí)現對復雜形狀形面的檢測,線(xiàn)圈陣列被設計為一種條形分叉式結構(圖4(b)),而且根據被測表面形狀的不同,線(xiàn)圈陣列的形狀還可以有所不同。圖4(b)中線(xiàn)圈陣列設計為兩條平行的條形結構,以實(shí)現金屬管道的檢測,如果被測曲面為一般平滑曲面,還可以考慮設計成垂直條形結構或者6條分叉式結構。線(xiàn)圈陣列中各敏感線(xiàn)圈的引線(xiàn)設計為一條細長(cháng)的扁平引線(xiàn)電纜,這在大面積曲面間小位移測量的應用中非常重要。引線(xiàn)電纜直接通過(guò)插頭與處理電路連接,由計算機控制實(shí)現傳感器陣列的循環(huán)掃描測試。
圖4 電禍沉陣歹U的設計
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