微步步進(jìn)電機驅動(dòng)器在A(yíng)FS應用中堵轉檢測的實(shí)現

與傳統步進(jìn)電機驅動(dòng)器IC相比，NCV70522包含BEMF輸出，能夠實(shí)時(shí)地準確地反應電機運轉情況，非常適合汽車(chē)自適應前照燈系統中的應用。堵轉檢測閾值可以根據電機速度、負載特性及供電電壓的不同來(lái)調節。安森美半導體的NCV70522微步步進(jìn)電機驅動(dòng)器透過(guò)SLA引腳提供BEMF輸出，這表示它能實(shí)時(shí)進(jìn)行停轉檢測計算，并根據不同條件來(lái)調節檢測等級。

　由于機械結構的限制，自適應前照燈系統（AFS）應用中，步進(jìn)電機有時(shí)可能會(huì )堵轉。一旦電機堵轉，電子控制單元（ECU）將失去前照燈位置的跟蹤信息并作出不恰當的反應，滋生極嚴重的安全問(wèn)題，所以AFS應用中堵轉檢測是必不可少的。

　　通?？梢酝ㄟ^(guò)電機的反電動(dòng)勢（BEMF）來(lái)判斷電機堵轉與否。BEMF因電機速度、負載及供電電壓的不同而變化。傳統的步進(jìn)電機驅動(dòng)芯片無(wú)BEMF輸出，但包含內置堵轉檢測算法?？蛻?hù)僅可以在寄存器里設定固定的堵轉認定臨界值，這表示在真實(shí)道路條件下所有設定值都必須在工作之前“離線(xiàn)”預設，而不能適配真實(shí)工作條件。

　　安森美半導體的NCV70522微步步進(jìn)電機驅動(dòng)器透過(guò)SLA引腳提供BEMF輸出，這表示它能實(shí)時(shí)進(jìn)行停轉檢測計算，并根據不同條件來(lái)調節檢測等級。

　　算法說(shuō)明

　　由于線(xiàn)圈電流衰減期間的再循環(huán)電流相對較大，線(xiàn)圈電壓Vcoil就展示出瞬態(tài)特性。由于應用軟件中并不總是想要瞬態(tài)，就可以通過(guò)位的設定值來(lái)選擇兩種工作模式。在為高下，SLA引腳顯示出完全可視的電壓瞬態(tài)特性。如果位被清除，那么SLA引腳上僅可視每個(gè)線(xiàn)圈電流過(guò)零末端的電壓樣本。由于線(xiàn)圈電壓的瞬態(tài)特性不再可視，這種模式產(chǎn)生更平常的BEMF輸入，用于軟件等的后續處理。

　　為了將采樣的BEMF輸出電平適應到（0 V至5 V）范圍，采樣的線(xiàn)圈電壓Vcoil可選擇被除以2或4。此設定通過(guò)SPI位來(lái)控制。下圖顯示了SLA引腳的工作，透明位“PWMsh”及“Icoil=0”是內部信號，與SLAT一起定義線(xiàn)圈電壓的采樣以及維持瞬間。

　　此 BEMF電壓在每個(gè)所謂的“線(xiàn)圈電流過(guò)零”期間采樣。每個(gè)線(xiàn)圈在每個(gè)電氣周期內存在2個(gè)零電流位置，因而每個(gè)電氣周期共有4個(gè)過(guò)零觀(guān)察點(diǎn)，故可以測量4次 BEMF。如果微步位置位于“線(xiàn)圈電流過(guò)零點(diǎn)”，BEMF電壓將僅由電機驅動(dòng)器采樣。微步位置可以通過(guò)SPI接口來(lái)讀取。

　　通過(guò)軟件，我們可以基于測量的1個(gè)電氣周期內的4次SLA值來(lái)靈活地判斷是否堵轉。

算法應用

　　NCV70522 是一款微步步進(jìn)電機驅動(dòng)器，用于雙極型步進(jìn)電機。這芯片通過(guò)I/O引腳及SPI接口連接至外部微控制器。NCV70522輸出電流有多種選擇。它根據 “NXT”輸入引腳上的脈沖信號以及方向寄存器［DIRCTRL］或“DIR”輸入引腳的狀態(tài)來(lái)轉動(dòng)下一個(gè)微步。這器件提供從滿(mǎn)步到32微步的細分、由 SPI寄存器SM［2:0］來(lái)選擇的7種步進(jìn)模式。NCV70522包含SLA的輸出，可以用于堵轉檢測算法及根據電機的BEMF來(lái)調節轉矩和速度計算。典型應用電路圖如圖2所示。