全新測試卡擴展了4500-MTS多通道I-V測試系統的功能并降低測試成本
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4500-MTS用于多頭（多DUT）生產(chǎn)測試環(huán)境的自動(dòng)測試，如那些涉及到應力測量、使用壽命測量、以及一般設備特性的環(huán)境。該系統通常的應用情況為：利用其快速的源測量的性能產(chǎn)生I-V曲線(xiàn)，測量諸如MEMS以及電路保護二極管等DUT的電阻，以對其它無(wú)源和有源器件的特性。該系統作為多通道的電源也具有廣泛的用途，可以在器件（如RFIC以及光電IC）的功能測試中輸出電壓和電流或測量電壓和電流。吉時(shí)利以及其它公司的許多儀器都可以與4500-MTS搭配實(shí)現其I-V和電源供電的性能。
應用背景。4500-MTS可以解決生產(chǎn)商面臨的棘手的測量難題，它可以幫助生產(chǎn)商在不同的測試條件下，對多個(gè)器件進(jìn)行測試或者對一個(gè)器件上的不同通道同時(shí)進(jìn)行測試。通常情況下，一臺測試夾具上會(huì )加裝一打甚至更多的器件，而且要在每一臺設備的成千個(gè)源-測量測試點(diǎn)上采集電氣數據。在這些情況下使用多個(gè)獨立儀器的成本是非常高的，而且總線(xiàn)上的數據交流還會(huì )減慢數據采集的速度。
與其它模塊化測試系統不同，4500-MTS多通道I-V測試系統具有低噪音和高電流源的特點(diǎn)，并可以同時(shí)在高靈敏度測量中保持良好控制環(huán)境。它有助于在不降低質(zhì)量目標和生產(chǎn)產(chǎn)量的前提下降低生產(chǎn)成本。
產(chǎn)品詳情。4510或4511 Quad I-V卡的每一個(gè)通道都可以提供一個(gè)高功率電流源子通道、一個(gè)低功率電壓源子通道、以及一個(gè)用于讀取DUT對源激勵反應的5-1/2位模擬-數字轉換器。4510型卡具有三個(gè)全刻度輸出量程，分別為±30mA、±100mA和±500mA。4511型卡具有的三個(gè)全刻度輸出量程分別為±100mA、±300mA和±1.0A。除此之外，這兩種卡是完全相同的，包括它們的±10VDC全刻度電壓源子通道。每一個(gè)卡上還有一個(gè)微控制器，運行實(shí)時(shí)操作系統及板上的測量存儲，因此測試次序中它可以自發(fā)的活動(dòng)或通過(guò)觸發(fā)總線(xiàn)為源測量活動(dòng)計時(shí)以實(shí)現與其它4500系列測試卡的同步工作。每一個(gè)子通道都具有機械繼電器以隔離輸出和測量DUT電路，因此實(shí)現電流源子通道和電壓源子通道之間的多路工作。
這些測試卡擴展了早前4500型Quad I-V卡的功能。低噪音電壓源子通道的最大輸出已經(jīng)從5V增加到了10V。對這些子通道電流測量的靈敏度也提高到了10
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