一款定性測試電容器漏電的電路
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時(shí)間：2013-07-26
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電解電容器時(shí)間用長(cháng)后就會(huì )出現漏電現象，附圖所示的電路能讓你測試電容器的漏電，并且決定它們是否值得使用，你可以通過(guò)CREF/RREF的比值抑制泄漏。
附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測試。電路中CREF的數值與待測電容器CX的數值相近，你也可以通過(guò)一個(gè)旋轉開(kāi)關(guān)選擇RREF，使其大于或小于22MΩ。
工作原理
當按鈕開(kāi)關(guān)合上時(shí)，電容器CREF和CX通過(guò)它們各自的PNP晶體管進(jìn)行充電。當該開(kāi)關(guān)斷開(kāi)時(shí)，電容器CREF和CX開(kāi)始放電。假定CREF處在良好狀態(tài)，它具有一個(gè)附加的放電外接電阻RREF，待測電容器CX通過(guò)其內部電阻放電。
如果CX的放電比CREF通過(guò)RREF的放電快，此時(shí)其電壓將下降較快，這樣，運算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低，迫使運算放大器的輸出變低，從而點(diǎn)亮紅色發(fā)光二極管。該發(fā)光二極管指明待測電容器CX漏電，該測試電路表明甚至一個(gè)1納法的陶瓷電容器都適應來(lái)比作參考，測試前請檢查待測電容器CX的標稱(chēng)電壓應比其待充電電壓要高。
運算放大器LF357具有10V的最小電源電壓，本測試電路只選取6V電壓是為了容許待測電容器CX一個(gè)低的上限電壓。
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