針對手機電磁兼容測試靜電放電抗擾度試驗等問(wèn)題研究 作者： 時(shí)間：2014-01-12 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò ) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢(xún) 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 論本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/226988.htm手機的電磁兼容性能直接關(guān)系到手機的各個(gè)性能，保證手機的電磁兼容性能是保證手機質(zhì)量的一個(gè)重要環(huán)節，因此手機的電磁兼容測試及設計不容忽視。 上一頁(yè) 1 2 3 4 下一頁(yè)
加入技術(shù)交流群
評論