EmbeddedICE目標系統中的調試功能擴展部件

　　圖 處理器內核、EmbeddedICE邏輯部件及TAP控制器之間的關(guān)系

　　EmbeddedICE邏輯部件包括：

　　·兩個(gè)數據斷點(diǎn)（watchpoint）寄存器。

　　·兩個(gè)獨立的寄存器，即調試寄存器和調試狀態(tài)寄存器。

　　·調試通信通道（DCC）。

　　兩個(gè)數據斷點(diǎn)寄存器可以被用來(lái)設置斷點(diǎn)或程序斷點(diǎn)。當設置程序斷點(diǎn)，地址與數據斷點(diǎn)寄存器的值相等時(shí)，EmbeddedICE邏輯部件停止程序的執行；當前指定的當設置數據斷點(diǎn)，當前數據總線(xiàn)上的數據與數據斷點(diǎn)寄存器的值相等時(shí)，EmbeddedICE邏輯部件停止程序的執行。

　　與基于A(yíng)ngel的調試系統不同，這時(shí)程序斷點(diǎn)可以設置在ROM中，這是因為EmbeddedICE邏輯部件提供了所需要的硬件支持。

　　在數據斷點(diǎn)寄存器中的數據位可以被屏蔽，使其在進(jìn)行比較時(shí)不起作用，從而使得斷點(diǎn)的設置更為靈活。

　　調試通信通道（DCC）用來(lái)在主機上的調試器與目標處理器之間建立通信通道。在A(yíng)RMTTDMI中，它是作為一個(gè)協(xié)處理器實(shí)現的。它包括：

　　·一個(gè)32位的通信數據讀取寄存器。

　　·一個(gè)32位的通信數據寫(xiě)入寄存器。

　　·一個(gè)6位的通信控制寄存器。

　　通過(guò)這些接口，DOC可以在主機上的調試器和目標處理器之間建立通信信道。

　　在所有調試信號中，下面3個(gè)是最主要的。

　　●BREAKPT：終止處理器進(jìn)入調試狀態(tài)。

　　●DBGRQ：請求處理器進(jìn)入調試狀態(tài)。

　　●DBGACK：表明處理器己經(jīng)進(jìn)入調試狀態(tài)。