是不是每次測量一個(gè)新的項目前都必須做校準

　　注意：在正式測量前X,Y,Z軸最好先進(jìn)行回零。因為機械位置誤差的補償是以零位為基準的，同時(shí)軟件的行程限位也是相對于零位的。

　　3. 預測試

　　通過(guò)沿水平或垂直方向掃描待測天線(xiàn)的中心行所獲幅相數據來(lái)判斷天線(xiàn)的安裝是否滿(mǎn)足測試要求。由相位數據可判斷探頭掃描面是否與天線(xiàn)口徑面平行，同時(shí)根據幅度數據可確定掃描面的大小及起點(diǎn)位置。

　　4. 測試功能

　　該功能包括天線(xiàn)的近場(chǎng)測試和遠場(chǎng)測試。在近場(chǎng)測試前應先執行預掃描，以調整天線(xiàn)口徑面與探頭掃描面平行，并確定掃描面積和起點(diǎn)。而遠場(chǎng)調整時(shí)，應將探頭對準天線(xiàn)口徑中心。

　　* 平面近場(chǎng)掃描

　　用戶(hù)通過(guò)設置測試軌跡(水平或垂直掃描)、采樣方式(單向或雙向)、極化方向、測試參數設置(頻率、行數、行間距、行點(diǎn)數、點(diǎn)間距)等參數來(lái)設計測量。為了校正接收機由于長(cháng)時(shí)間測量所造成的幅度相位漂移設計了Tie掃描功能。同時(shí)還具有速度設定、顯示參數設定和實(shí)時(shí)顯示等功能。

　　* 遠場(chǎng)測量

　　用于口徑較小天線(xiàn)的暗室遠場(chǎng)測量。用戶(hù)通過(guò)設置頻率、方位角、角增量等參數來(lái)設計測量。同時(shí)可通過(guò)顯示參數的設定，選擇對數直角坐標或對數極坐標格式實(shí)時(shí)顯示測量的幅度數據。改變參考電平和刻度能夠改變曲線(xiàn)的顯示效果。曲線(xiàn)的位置是根據參考電平大小改變的，而刻度決定了幅度的顯示范圍。用戶(hù)可根據實(shí)測幅度值調整參考電平和刻度來(lái)獲得最佳顯示效果。圖形編輯功能對所測遠場(chǎng)數據曲線(xiàn)，給出標題注釋?zhuān)⑼ㄟ^(guò)移動(dòng)光標加注標記。程序能自動(dòng)計算波束的半功率角和第一副瓣的位置。

　　5.儀器控制

　　該部分將儀器通過(guò)遠程控制實(shí)現了儀器的虛擬。程序模擬VNA37147的面板功能，用戶(hù)可完成儀器的仿真操作。對于熟悉儀器操作和控制指令的用戶(hù)則可通過(guò)控制示例直接對儀器進(jìn)行控制。該功能為開(kāi)發(fā)人員提供了一簡(jiǎn)潔的調試環(huán)境。

五、 系統性能指標

　　西安電子科技大學(xué)為信息產(chǎn)業(yè)部長(cháng)嶺機器廠(chǎng)研制的近遠場(chǎng)綜合測試系統。系統調試中采用Hp5525A雙頻激光測量?jì)x對各軸定位精度、重復定位精度和直線(xiàn)度進(jìn)行檢測，然后采用軸向定點(diǎn)誤差補償、絲杠螺距誤差補償、間隙補償等方法，提高了系統精度。

　　驅動(dòng)軸全程累積誤差

　　(mm)重復定位精度

　　(mm)直線(xiàn)度

　　(mm)最大運動(dòng)速度

　　(mm/s)X(4.5m)設計0.10.030.0480實(shí)測0.0570.0140.04100Y(3.6m)設計0.10.030.05100實(shí)測0.050.0090.03100Z(0.3m)設計0.10.030.0230實(shí)測0.0780.0290.0250

　　對平面近場(chǎng)掃描而言，Z向的機械誤差等同于待測天線(xiàn)的相位誤差，其影響大小取決于待測天線(xiàn)和誤差校正方法。研究表明對于窄波束天線(xiàn)，X和Y向誤差只影響副瓣區域且其影響僅為Z向的1/10[2]。實(shí)測表明系統具有很好的重復性。

　　六、 結論

　　一種新型、快速、高精度的近遠場(chǎng)綜合測試系統已在信息產(chǎn)業(yè)部長(cháng)嶺機器廠(chǎng)建成，該系統完全達到了設計指標。其機械精度優(yōu)于設計要求，表明基于PMAC可編程控制卡的系統控制方案的可行性和優(yōu)越性。系統具有良好的推廣價(jià)值。