使用NI軟件與PXI硬件進(jìn)行高級無(wú)線(xiàn)電系統自動(dòng)化測試
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? 測試針可存取板卡另一邊的所有測試點(diǎn)
? 包含除錯設備
? 可針對未來(lái)產(chǎn)品隨時(shí)擴充，如更多的射頻頻帶與頻寬
我們將測試分為3大塊：
? DC Testing: 測試組件數值、電源供應電壓、耗電量，以及低電壓關(guān)機、切換面板、LED指示燈的功能性測試。
? Built-In Self Test (BIST): 用于Boot loader與軟件安裝、測試RAM與閃存、確認以太網(wǎng)的地址分配。我們將這些測試植入設備中，通過(guò)指令線(xiàn)路界面即可存取。
? 射頻功能性測試與校準： 測試并校準傳輸器、接收器、Aprisa SR板的系統功能。
圖2.最終試系統測
開(kāi)發(fā)難題
為了跟上產(chǎn)品開(kāi)發(fā)安排，我們必須配合產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測試系統，因此對其中5項板卡設計作出了變更。但又因為測試系統在設計之初，已考慮到其必要規格與靈活度，所以重新設計PCB也僅需對夾具進(jìn)行1項變更。在4RF Communication與CPE systems之間保持良好的通信，并建立項目、配置管理程序之后，NI軟硬件讓我們能確保達到同步開(kāi)發(fā)。
測試系統的主要限制之一，就是各組板卡需要5分鐘測試時(shí)間。因此需要優(yōu)化射頻校準算法，確保達到高效率運作。 而NI PXIe-5663矢量信號分析儀(VSA)與NI PXIe-5673矢量信號生成器(VSG)均可支持算法的優(yōu)化程序。
Aprisa SR的PCB組件包含射頻傳輸與接收電路，且必須連帶其外殼一起測試。所以我們也需考慮并納入射頻干擾與屏蔽的情況，再篩選夾具設計。 我們以產(chǎn)品的CAD模型容納射頻屏蔽外殼，構成夾具頂板部分(圖3)。只要將板卡置于外殼之中，即可達到測試設備所研發(fā)的屏蔽功能。
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