器件選型研討會(huì )助力“中國創(chuàng )造”高性能測試儀器

2013首屆儀器儀表器件選型技術(shù)研討會(huì )即將開(kāi)幕

　　測試儀器，作為測試技術(shù)中最重要的工具，一直是一個(gè)看似規模并不龐大，但影響深遠的市場(chǎng)。據統計，雖然每年測試儀器的市場(chǎng)只占全球經(jīng)濟總量的萬(wàn)分之二，但是卻帶動(dòng)著(zhù)全球70%以上的經(jīng)濟增長(cháng)，而對中國產(chǎn)業(yè)格局來(lái)說(shuō)，電子測試儀器一直是電子產(chǎn)業(yè)中相對滯后的一環(huán)，儀器產(chǎn)業(yè)的滯后間接延緩了我國電子產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展。

　　每個(gè)電子設計工程師的工作離不開(kāi)測試儀器，而高性能測試儀器的設計開(kāi)發(fā)同樣源于廣大電子工程師的智慧。研發(fā)人員在儀器儀表的研發(fā)過(guò)程中，不可避免涉及到各種電子器件的選型問(wèn)題，測試儀器對半導體器件有著(zhù)極為獨特的性能與指標的需求，為此眾多電子元器件廠(chǎng)商也針對測試儀器開(kāi)發(fā)出各種專(zhuān)門(mén)的產(chǎn)品。如何將這些產(chǎn)品合理的選型及應用到自己的儀器設計中，從而讓設計工程師開(kāi)發(fā)出高性能、易使用、可靠性好又有成本優(yōu)勢的測試儀器，對提升中國制造的測試儀器產(chǎn)品的競爭力至關(guān)重要。

　　2013年11月13日，在第82屆中國電子展同期，中國電子展組委會(huì )將與《電子產(chǎn)品世界》雜志社合力舉辦“首屆儀器儀表器件選型技術(shù)研討會(huì )”。我們誠摯邀請廣大電子工程師光臨上海國際展覽中心，和專(zhuān)家一起圍繞“模擬前端在測試儀器設計中的重要意義與選型特殊需求”“ADC的性能對測試儀器信號捕獲的價(jià)值及選型指導”“如何選擇最適合的放大器及相關(guān)信號處理系統”“FPGA在測試儀器設計中的優(yōu)勢與應用實(shí)例”“測試儀器用操作系統應用指南”“信號分析與信號處理技術(shù)在不同測試儀器中的應用”等題目進(jìn)行探討，共同傾聽(tīng)眾多半導體廠(chǎng)商最新的產(chǎn)品在電子測試儀器設計中的應用技巧與相關(guān)方案，并交流工程師的儀器設計需求，共同尋找最有針對性的設計解決方案。