基于固態(tài)存儲器的ECC算法分析及實(shí)現

行校驗碼生成用數學(xué)表達式表示為

這里xor表示異或操作。
因為發(fā)生錯誤的數據位在該數據塊中的字節的偏移量為

發(fā)生錯誤的數據位在所處的字節中的位偏移量為P4_1，P2_1，P1_1
所以根據字節的偏移量和字節中的位的偏移量即可確定該頁(yè)數據中哪一位發(fā)生了變化。
2．2 ECC校驗流程
當向NAND Flash的頁(yè)中寫(xiě)入數據的時(shí)候，每2 048 bit生成4 bit的ECC校驗碼，稱(chēng)之為寫(xiě)ECC校驗碼，保存到每一頁(yè)的空閑數據區中。
當從NAND Flash中讀取數據的時(shí)候，每2 048 bit生成4 bit的ECC校驗碼，稱(chēng)之為讀ECC校驗碼。校驗的時(shí)候，根據上述ECC生成原理不難推斷：將從頁(yè)空閑區中讀出的寫(xiě)ECC校驗碼和讀ECC校驗碼按位異或，若結果為0，則表示不存在錯；若4 bit的異或結果中存在14 bit為1，表示存在1 bit錯誤，且可糾正；若4個(gè)bit的異或結果中只存在1 bit為1，表示空閑區中的校驗碼出錯；其他情況均表示出現了無(wú)法糾正的錯誤，校驗流程圖，如圖2所示。

3 ECC算法的實(shí)現
3．1 C語(yǔ)言實(shí)現ECC算法
以一頁(yè)數據2 048個(gè)字節作為測試數據產(chǎn)生ECC校驗碼，數據是0x00～0xFF，循環(huán)8次產(chǎn)生2048個(gè)數據，數據序列，如圖3所示。