全棧式電源測試方案助力技術(shù)革新，泰克科技參加2024（春季）亞洲充電展

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2024（春季）亞洲充電展于3月20日-22日在深圳福田會(huì )展中心6號館舉辦，技術(shù)領(lǐng)先的測試和測量解決方案提供商泰克攜全面電源測試解決方案和最新4B系列示波器參展，這也是4系列B自全球發(fā)布之后的首次公眾亮相。作為電源行業(yè)值得信賴(lài)的測試測量專(zhuān)家，基于電源設計百位工程師的研發(fā)需求和市場(chǎng)反饋，泰克為行業(yè)提供全棧式測試方案，從初期的器件選擇到最終的產(chǎn)品認證多個(gè)測試環(huán)節，泰克的專(zhuān)業(yè)測試方案讓工程師不再對高昂電源測試方案束手無(wú)策，并助力第三代半導體發(fā)展，為電源轉換應用帶來(lái)技術(shù)革新。

亞洲充電展（ Asia Charging Expo ）簡(jiǎn)稱(chēng) ACE ，由充電頭網(wǎng)發(fā)起，展會(huì )立足粵港澳大灣區，是全球影響最為廣泛的能源電子技術(shù)展會(huì )之一，也是亞洲屈指可數的充電行業(yè)技術(shù)產(chǎn)業(yè)盛會(huì )。得益于專(zhuān)業(yè)性強、參展商和觀(guān)眾覆蓋精準，亞洲充電展在全球享有相當高的知名度。泰克科技此次重點(diǎn)展示如下三個(gè)方面的解決方案。

功率半導體器件動(dòng)態(tài)參數測試系統

DPT1000A功率器件動(dòng)態(tài)參數測試系統由泰克科技領(lǐng)銜開(kāi)發(fā)，專(zhuān)門(mén)用于針對三代半導體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶(hù)在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見(jiàn)的疑難問(wèn)題，包括如何設計高速工作的驅動(dòng)電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號測試，如何優(yōu)化和抑制測試過(guò)程中的噪聲和干擾。同時(shí)系統具備良好的開(kāi)放性，支持客戶(hù)對測試硬件進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，幫助客戶(hù)在研發(fā)設計、失效分析、進(jìn)廠(chǎng)檢測和試產(chǎn)階段快速評估器件性能，更快應對市場(chǎng)需求改善產(chǎn)品性能。也幫助客戶(hù)快速驗證自研驅動(dòng)電路，加速應用端解決方案落地。

動(dòng)靜態(tài)綜合老化測試系統HTXB-1000D

HTXB-1000D 動(dòng)靜態(tài)綜合老化測試系統針對以SiC/GaN 為首的新型三代半導體功率器件，根據其特有的器件結構和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動(dòng)態(tài)壓力），用以測試功率器件器件的漏流指標，以及其他典型特性參數（例如閾值開(kāi)啟電壓，動(dòng)態(tài)導通電阻等關(guān)鍵指標），以表征器件的老化特性和工作壽命?？梢宰屍骷a(chǎn)廠(chǎng)商和器件使用者在較短時(shí)間內了解新型功率器件的老化特性，以及長(cháng)期使用條件下的性能變化，為器件實(shí)際應用過(guò)程中可能出現的故障進(jìn)行預判和分析。

泰克模擬芯片流程 全棧式測試解決方案

芯片從晶圓到封裝為終端客戶(hù)使用的過(guò)程中，不同職能工程師會(huì )在各個(gè)階段進(jìn)行不同的測試，確保產(chǎn)品的安全性，穩定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的測試解決方案助力模擬芯片全流程的測試測量需求。

多功能 4 系列 B MSO 具備應對復雜設計挑戰的性能，并且擁有直觀(guān)的用戶(hù)界面，能夠更快地提供準確的測量結果，同時(shí)擁有一系列出色的分析工具。泰克全新4 系列B MSO專(zhuān)門(mén)面向需要卓越的精度、多功能性和易用性的嵌入式產(chǎn)品設計人員，其帶寬為 200 MHz 至 1.5 GHz，具有高達 16 位的垂直分辨率和 6.25 GS/s 的實(shí)時(shí)采樣率，并可實(shí)現與先前版本的 4 系列同樣出色的信號保真度。此外，該產(chǎn)品不僅繼承了前代產(chǎn)品備受好評的觸控式用戶(hù)界面，而且對處理器系統進(jìn)行了升級；儀器的后部還增加了兩個(gè)USB 3.1主機端口，實(shí)現對USB存儲介質(zhì)高達10倍數據傳輸速度；13.3英寸高清觸摸顯示屏采用了新的光學(xué)粘合技術(shù)，提供更高對比度和更寬的視角。

泰克為工程師提供高效工具，幫助您在電源設計及診斷過(guò)程中更好的定位主要功率損耗點(diǎn)，測試電源的質(zhì)量、效率、諧波等功能從而幫助提供整體電源的效率，提高市場(chǎng)競爭力。