MVG在2023全國天線(xiàn)會(huì )議中展示創(chuàng )新的SG Evo系統,在拱形環(huán)中采用MVG無(wú)限采樣專(zhuān)利技術(shù)

天線(xiàn)測量解決方案領(lǐng)導者M(jìn)icrowave Vision Group（MVG）今日宣布參加2023年8月20日至23日在哈爾濱舉辦的全國天線(xiàn)會(huì )議，并參與會(huì )議同期進(jìn)行的產(chǎn)品展覽，展出其采用了MVG無(wú)限采樣專(zhuān)利技術(shù)的多探頭測試系統——SG Evo。

在由多探頭測試系統進(jìn)行的球形天線(xiàn)測量中，DUT在方位角上旋轉，而設備周?chē)碾姶艌?chǎng)同時(shí)被多探頭陣列掃描。對于大型天線(xiàn)和/或工作在更高頻率的天線(xiàn)，如毫米波，需要更多的測量點(diǎn)或樣本，以尊重奈奎斯特準則，無(wú)限制取樣是關(guān)鍵。

MVG的無(wú)限采樣專(zhuān)利技術(shù)通過(guò)對DUT定位器或探頭陣列進(jìn)行輕微的機械旋轉來(lái)創(chuàng )造額外的虛擬探頭。利用這一無(wú)限采樣技術(shù)，系統提供以達到無(wú)限的掃描分辨率。無(wú)限采樣是通過(guò)結合自動(dòng)化機械運動(dòng)和探陣列電掃描來(lái)實(shí)現。

為了測試5G大規模MIMO BTS、衛星及地面終端天線(xiàn)等大型、重型天線(xiàn)，MVG設計出用于進(jìn)行天線(xiàn)球面近場(chǎng)測試和OTA測試的多探頭陣列測試SG Evo系統，該系統在拱形環(huán)中整合了無(wú)限采樣定位功能，減少了被測設備的移動(dòng)，以提升測試結果的速度和準確性。

由于SG Evo的拱形環(huán)采用了MVG無(wú)限采樣專(zhuān)利技術(shù)，無(wú)需在多重采樣時(shí)傾斜被測設備，即使在測試重型被測設備時(shí)也避免了被測設備和方位角定位器的重力偏轉。此外，無(wú)限采樣技術(shù)通過(guò)旋轉加上探針陣列的額外電子掃描，引入了更多的數據收集點(diǎn)，形成了完整的測量球面，從而獲得了精確的分析能力。因此，SG Evo系統能夠以前所未有的速度給出精準的天線(xiàn)性能測試結果。

此外，SG Evo還能通過(guò)配備多個(gè)平行接收器大幅縮短測量時(shí)間, 尤其是在測試大量頻率或者具有眾多潛在天線(xiàn)波束狀態(tài)的設備時(shí)。

SG Evo的模塊化設計還為其架構帶來(lái)了靈活性: 探頭陣列拱形環(huán)和定位器模塊的尺寸可以根據被測設備的典型尺寸和重量來(lái)確定，還可以根據被測頻率（400 MHz至30 GHz）選擇多套探頭。憑借MVG無(wú)限采樣專(zhuān)利技術(shù)和這些主要特性，SG Evo能夠以快于傳統測試方法10-100倍的速度進(jìn)行精準測試和測量。

MVG 亞太技術(shù)總監Mathieu Mercier表示：“SG Evo適于廣泛的應用以及在測試的所有階段都非常有用，從研發(fā)的初始原型測試到生產(chǎn)中全集成設備的最終驗證測試。無(wú)源天線(xiàn)測量和OTA測試均適用于SG Evo?！?/p>

除了SG Evo之外，MVG還將在會(huì )議期間展示一系列最具創(chuàng )新性的5G測試技術(shù)和多探針天線(xiàn)測試與測量解決方案。MVG此次參展的展位號是11號，歡迎蒞臨參觀(guān)和體驗。