2022 Electronica 展會(huì )的 Seica：11月15日至18日,德國慕尼黑-展位A3-459

Seica是客戶(hù)尋找前沿解決方案的地方，在2022年Electronica展會(huì )A3-459展位上，他們將重點(diǎn)介紹旨在提供便利的、可持續的、同時(shí)強大的“可測試性設計”的創(chuàng )新解決方案。

可測試性設計

 “可測試性設計”是電路板設計領(lǐng)域的一個(gè)眾所周知的概念，也是設計工程師每天必須處理的眾多要求之一。他們日常工作的另一個(gè)方面是設計驗證，特別是測試原型，所有這些都是在如今產(chǎn)品生命周期加速所帶來(lái)的市場(chǎng)限制的時(shí)間內進(jìn)行的：從概念到設計，到原型，再到生產(chǎn)，再到遺留問(wèn)題修復。

Seica的Pilot VX擁有一套廣泛的測量硬件和軟件工具，能夠以最小的工作量快速測試和驗證原型。當提到飛針測試儀時(shí)，首先想到的肯定是小批量測試，盡管Pilot VX所代表的最新一代測試儀由于速度和性能的顯著(zhù)提高，已成為許多大批量生產(chǎn)環(huán)境中的關(guān)鍵。但Seica增加了許多功能和工具，專(zhuān)門(mén)解決設計師在測試原型時(shí)的需求。

對電路施加激勵并測量結果是對電路物理訪(fǎng)問(wèn)的基本要求。PILOT VX能夠探測20μm焊盤(pán)，即使是非常小的目標，也可以精確地物理訪(fǎng)問(wèn)，強大的Flylab軟件允許您與電路板“互動(dòng)”，就像您手中有八個(gè)探針和一張可用的儀器表，可以隨時(shí)用于執行驗證測試一樣，無(wú)需對測試人員進(jìn)行專(zhuān)門(mén)培訓或生成測試程序?？梢允褂眉蓴z像頭并點(diǎn)擊圖形板圖像手動(dòng)選擇接觸點(diǎn)，然后簡(jiǎn)單直觀(guān)的軟件界面通過(guò)簡(jiǎn)單選擇測量類(lèi)型并輸入值來(lái)實(shí)現參數和功能測量。系統自動(dòng)定位移動(dòng)探針，測量結果顯示在集成示波器上。此外，飛針上電測試功能還提供了為電路板（每個(gè)探針最多2A個(gè)）提供所有8個(gè)標準電子探針的能力，以實(shí)現有源電路測試和其他功能測試，這些測試是設計驗證過(guò)程的重要組成部分。紅外熱掃描配件是另一個(gè)有用的驗證工具，允許用戶(hù)獲取通電板的配置文件，以檢查電路各個(gè)部分的熱行為。

當然，SEICA的VIVA軟件平臺還包括一個(gè)快速、簡(jiǎn)化的過(guò)程，從電路板CAD數據開(kāi)始自動(dòng)生成和調試完整的測試程序，從而能夠立即測試原型電路板，以檢測任何制造錯誤。功能測試可以通過(guò)功能強大的QuickTest軟件輕松創(chuàng )建，只需了解待測電路（不一定是測試儀或編程語(yǔ)言）。移動(dòng)連接器配件通過(guò)專(zhuān)用的單個(gè)移動(dòng)探針來(lái)攜帶多達10個(gè)通道，可以訪(fǎng)問(wèn)邊界掃描電路，并在無(wú)需任何外部固定電纜的情況下增加在板編程功能，從而進(jìn)一步擴展了測試能力。

設計師通常必須實(shí)施最初的功能測試規范，而Seica的 MINI Line測試解決方案提供了廣泛的集成儀器、開(kāi)關(guān)矩陣和用戶(hù)電源，使其成為開(kāi)發(fā)定制測試基準的一個(gè)非常有用且具有成本效益的平臺。用戶(hù)可以自由選擇配置和編程語(yǔ)言：Seica的VIVA集成平臺（VIP?) 能夠輕松集成現成的儀器，可以使用VIVA Test Studio環(huán)境或廣泛的第三方軟件（包括LabView?、TestStand?、C和Python）開(kāi)發(fā)測試序列。與自制的“機架堆疊式”測試臺不同，Seica的MINI測試解決方案具有標準的“核心”VIP? 包括完整的用戶(hù)文檔和自我診斷程序，確保其隨時(shí)間和資源周轉的可持續性和可維護性。此外，在MINI上開(kāi)發(fā)的程序完全可移植到其他SEICA系統，這有助于快速輕松地設置制造測試過(guò)程。

PILOT和MINI測試解決方案（與所有SEICA系統一樣）包括支持每個(gè)單板測試結果完全可追溯性的特性和性能，使其可用于后續維修操作、統計分析等，并通過(guò)常駐維修站軟件模塊或外部信息系統將其存儲在本地。Pilot VX添加了更多信息，因為它包括收集和存儲測試探針在測試板上每個(gè)點(diǎn)上施加的機械壓力數據的能力，使其可用于可視化、圖形化和統計分析。

來(lái)自機器的額外數據的采集和數字化是Canavisia工業(yè)4.0解決方案的一部分，SEICA展臺的參觀(guān)者將看到儀表盤(pán)和APP提供了連接資源的實(shí)時(shí)視圖以及統計報告。

來(lái)參觀(guān)A3-459展位，看看SEICA為幫助您驗證原型而開(kāi)發(fā)的各種前沿解決方案，盡可能減少工作量，最大限度地快速返回可跟蹤數據。