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一種距離光線(xiàn)傳感器失效分析及整改

作者:卞國任,沈絢樺 (珠海格力電器股份有限公司,珠海 519070) 時(shí)間:2021-05-28 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:文章結合一種距離、光線(xiàn)傳感器失效問(wèn)題,進(jìn)行問(wèn)題調查,發(fā)現主要原因為:傳感器的增高板存在回流焊后受到熱沖擊導致過(guò)孔沉銅拉裂出現似接觸非接觸不穩定的故障;最終通過(guò)增大過(guò)孔及用環(huán)氧樹(shù)脂堵孔的方式進(jìn)行設計后,問(wèn)題得到最終解決。


本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202105/426010.htm

0   引言

科技發(fā)展的時(shí)代,我們對于手機功能及用戶(hù)體驗方面要求更高,而就是手機獲取更多功能和更好體驗非常重要的一部分。手機集成的包括[1]:距離、光線(xiàn)傳感器、加速度傳感器、指紋傳感器、壓力傳感器、重力傳感器、電子羅盤(pán)傳感器等。距離傳感器工作原理[2] 是通過(guò)紅外傳感接收由IR LED 發(fā)出穿過(guò)蓋板并從物體反射回來(lái)的光,經(jīng)過(guò)模/ 數轉換將數據提供到傳感器芯片,控制亮滅屏;而光線(xiàn)傳感器是常規兩路光電二極管作為接收,光轉為電信號,進(jìn)行模/ 數轉換,通過(guò)對環(huán)境光數據和紅外數據相減得到可見(jiàn)光的數據,以此數據作為背光調節的依據。由于在使用過(guò)程中某廠(chǎng)家的距離、光線(xiàn)傳感器出現了失效,為了從根本上分析解決傳感器失效問(wèn)題,本文將從傳感器、工藝設計、器件結構等方面進(jìn)行分析,制定整改措施并通過(guò)實(shí)驗驗證其可靠性。

1   背景

在某型號手機生產(chǎn)測試過(guò)程中,功能測試崗位連續出現多單距離、光線(xiàn)傳感器失敗故障機下線(xiàn),且該故障存在失效不穩定現象,質(zhì)量不可控,生產(chǎn)測試不可控,極易流至售后,存在售后投訴隱患,嚴重影響手機產(chǎn)品質(zhì)量和用戶(hù)實(shí)際體驗,問(wèn)題急需解決。

2   傳感器失效原因分析

手機生產(chǎn)過(guò)程中出現10% 的距離、光感測試失效,對此我們對故障樹(shù)進(jìn)行原因分析[3]。共找到7 個(gè)問(wèn)題原因( 圖1),其中根據異常主板SN 號追溯SPI 測試數據無(wú)異常,均為一次性測試通過(guò),說(shuō)明錫膏印刷過(guò)程無(wú)異常,失效原因為傳感器本體異常,此項排除;車(chē)間按照無(wú)塵標準進(jìn)行生產(chǎn),溫濕度按標準嚴格管控,生產(chǎn)環(huán)境問(wèn)題可以排除;員工均持證上崗,按標準進(jìn)行作業(yè),經(jīng)驗豐富,且定期進(jìn)行考評,此項排除;對生產(chǎn)設備進(jìn)行檢查,發(fā)現廠(chǎng)家自動(dòng)送料軌道存在偏移,此項為異常原因之一;剩余的IC 功能、焊盤(pán)上錫異常、不良需要進(jìn)一步分析驗證。

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2.1 傳感器失效分析

將故障品物料與正常品物料進(jìn)行驗證分析,發(fā)現故障品存在以下異常導致功能失效,傳感器實(shí)物如圖2 所示。①將故障品與正常品的IC 進(jìn)行對調測試功能,發(fā)現故障品與正常品結論不變,說(shuō)明IC 功能正常,所以鎖定墊高板為傳感器異常原因之一。②觀(guān)察墊高板底部焊盤(pán),發(fā)現異常腳底部焊盤(pán)不上錫,對比正常腳錫量飽滿(mǎn),如圖3 所示。在放大鏡下觀(guān)察異常物料焊盤(pán),發(fā)現有氧化、黑色油墨上焊盤(pán)現象,底部油墨偏多,局部堆高,導致物料腳與錫膏有高度差,焊接時(shí)無(wú)法與錫膏有效接觸,上錫異常導致功能失效,如圖4 所示。③用萬(wàn)用表測量墊高板兩端導通情況,發(fā)現故障品上下焊盤(pán)存在開(kāi)路情況而正常品導通,如圖5 所示。將故障傳感器墊高板做金相實(shí)驗,發(fā)現傳感器下面墊高板存在過(guò)孔不通,斷開(kāi),導致上下焊盤(pán)開(kāi)路,使傳感器故障,如圖6 所示。用砂紙磨開(kāi)過(guò)孔位置有發(fā)現黑色物質(zhì),如圖7 所示。分析為PCB 在鉆孔過(guò)程鉆頭高速旋轉后,鉆頭發(fā)熱燒黑板材后殘留的粉塵,后道清洗工序沒(méi)有處理干凈所致。

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2.2 廠(chǎng)家生產(chǎn)工藝分析

經(jīng)過(guò)對廠(chǎng)家生產(chǎn)工藝排查,發(fā)現生產(chǎn)過(guò)程中存在如下諸多隱患點(diǎn)。

1)墊高板鉆孔完成后(過(guò)孔在傳感器焊盤(pán)上),過(guò)孔孔壁與焊盤(pán)交接處會(huì )形成電鍍銅與焊接基材覆銅焊接帶,然后再做阻焊,阻焊完成再做油墨填塞過(guò)孔,即在焊盤(pán)上過(guò)孔位置處灌塞油墨,存在油墨灌塞偏多導致上焊盤(pán)、過(guò)孔位置高于焊盤(pán)高度,造成傳感器接觸不良;

2)PCB 在自動(dòng)送料軌道夾持中固定不好或PCB 工藝邊有異物造成夾持位置不平整,錫膏在印刷時(shí)超出焊盤(pán)外,形成不規律錫珠導致虛焊;

3)對PCB 過(guò)孔時(shí)鉆頭高速旋轉發(fā)熱易燒黑板材,但后續清潔力度不夠,導致異物殘留,出現沉銅斷層現象。

3   傳感器失效整改措施

3.1 整改方案

通過(guò)長(cháng)期生產(chǎn)數據分析,該廠(chǎng)家不同批次的物料存在不同類(lèi)型的問(wèn)題,異常問(wèn)題不斷出現,說(shuō)明廠(chǎng)家沒(méi)從根本上解決。經(jīng)過(guò)對廠(chǎng)家的生產(chǎn)過(guò)程隱患點(diǎn)進(jìn)行排查,加以實(shí)驗驗證,從工藝流程、器件結構、檢驗工序三個(gè)方面優(yōu)化并制定有效的解決方案。

1)工藝流程:從鋼網(wǎng)厚度、錫膏量等方面優(yōu)化工藝參數,提高精度,將焊盤(pán)上過(guò)孔孔徑由0.35 mm 擴至0.45 mm,由原過(guò)孔塞油墨改為填塞樹(shù)脂工藝,版面看不到過(guò)孔,版面平整,傳感器與墊高板能良好導通;

2)檢驗工序:對自動(dòng)送料軌道及PCB 工藝邊全面檢查,用20 倍鏡45°斜角顯微鏡對上錫量進(jìn)行全檢,并增加測試治具限位裝置,避免虛焊/ 假焊產(chǎn)品因測試壓力過(guò)大而造成誤判導致不良品流出;

3)器件結構:增加PCB鍍銅層厚度可減少斷層現象,在清洗工序增加超聲波和高壓沖洗工序,防止粉塵殘留。

3.2 整改效果評估

對整改后傳感器的性能結構、產(chǎn)品可靠性進(jìn)行全面評估,檢查能否達到預期整改水平。

1)結構分析:將整改前后的傳感器放入X-Ray 進(jìn)行觀(guān)察,整改后的墊高板沉銅均勻,無(wú)過(guò)孔不通、斷層現象,對比如圖8 所示。焊盤(pán)過(guò)孔由原先的油墨填塞工藝改為樹(shù)脂填塞工藝,更改后的焊盤(pán)版面完整,上錫正常,如圖9 所示。根據公司《傳感器檢驗規范》文件,要求PCB 墊高板過(guò)孔沉銅厚度平均值不小于20 μm,最小值不小于18 μm,孔角及孔壁銅層不均出現破損、缺損現象。對整改后的墊高板進(jìn)行金相切片,孔壁厚度符合標準,沉銅均勻無(wú)異常,如圖10、圖11 所示。

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2) 實(shí)驗分析: 針對傳感器更改了多項生產(chǎn)工藝,安排實(shí)驗驗證其可靠性。對500 pcs 整改前與整改后的傳感器過(guò)孔增加點(diǎn)環(huán)氧膠后高溫驗證,在-10±2 ℃、60±2 ℃環(huán)境下各保持30 min,循環(huán)20 次,實(shí)驗結果如表1。

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將傳感器組裝成整機進(jìn)行連續工作老化試驗48 h,分別在老化12 h、24 h、48 h 試驗后進(jìn)行功能測試,實(shí)驗結果如表2。

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對整改前后的樣品裝100 臺整機進(jìn)行50 ℃高溫烘烤6 h 之后,進(jìn)行隨機振動(dòng)30 min,測試傳感器功能,實(shí)驗結果如表3。

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可以看出,整改前傳感器在不同實(shí)驗環(huán)境下均存在失效現象,測試不可控,無(wú)法保證生產(chǎn)穩定性,而整改后傳感器功能均無(wú)異常,產(chǎn)品可靠性強,整改效果明顯。

4   傳感器失效整改總結

對整改后的傳感器進(jìn)行全面評估,整改后性能參數、結構要求符合預期,從實(shí)驗結果來(lái)看,整改后傳感器可靠性強,整改效果明顯。廠(chǎng)家整改之后,根據生產(chǎn)過(guò)程數據顯示無(wú)沉銅不良異常,整改效果明顯。本次通過(guò)傳感器物料在使用過(guò)程中的異常反饋,對實(shí)際出現的多種問(wèn)題進(jìn)行分析整改,從器件結構、制造工藝、檢驗工序進(jìn)行優(yōu)化改進(jìn),并加以實(shí)驗論證,從根本上有效改善了產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,提高了生產(chǎn)效率。

參考文獻:

[1] 裴春梅,楊秀清,王貴明.傳感器在智能手機中的應用[J].湖南農業(yè)大學(xué)學(xué)報:自然科學(xué)版,2009(10X):108-109.

[2] 孫晶.傳感器的原理與應用研究[J].科技咨詢(xún),2011(21):4.

[3] 戴俊夫,嚴明.電子元器件失效分析技術(shù)及方法[J].微機處理,2015(4):1.

(本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年4月期)



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