最新吉時(shí)利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰

Keithley 4200A-SCS參數分析儀模塊為擁有高測試連接電容、不穩定低電流測量的應用提供了理想的解決方案

中國北京2019年11月13日 – 泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長(cháng)電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時(shí)，其仍能執行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著(zhù)這一挑戰，如LCD顯示器制造和卡盤(pán)上的納米FET器件測試。

在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會(huì )增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時(shí)，最終的低電流測量結果可能會(huì )變得不穩定。為解決這些挑戰，新模塊在提供電壓和測量電流時(shí)，支持的電纜長(cháng)度和連接電容都要超過(guò)傳統SMU。

最新4201-SMU和4211-SMU是為采用長(cháng)電纜、開(kāi)關(guān)矩陣、通過(guò)柵極接觸卡盤(pán)及其他夾具的測試裝置專(zhuān)門(mén)設計的。這就讓研究人員和制造測試工程師節省了大量的時(shí)間和成本，而這些時(shí)間和成本本來(lái)可以花費在故障排除和重新配置測試設置上。

“因為要降低電流來(lái)節省能耗，精細測試裝置所產(chǎn)生的高負載電容正成為一個(gè)日益嚴重的問(wèn)題。在測試智能手機或平板電腦采用的大型LCD面板時(shí)，就面臨著(zhù)同樣的問(wèn)題?！?a class="contentlabel" href="http://dyxdggzs.com/news/listbylabel/label/泰克科技">泰克科技公司吉時(shí)利系統和軟件總經(jīng)理Peter Griffiths說(shuō)，“我們的新模塊特別擅長(cháng)進(jìn)行穩定的低電流測量，并將立即使我們的許多現有和未來(lái)的客戶(hù)受益?！?/p>

在最低電流測量范圍內，4201-SMU和4211-SMU可以提供和測量的系統電容要比當前水平高出1,000倍。例如，如果電流在1 ~ 100 pA (皮安)之間，那么最新吉時(shí)利模塊可以在低達1 μF (微法拉)的負載電容下保持穩定。相比之下，同類(lèi)產(chǎn)品最多只能容忍1,000 pF (皮法)的負載電容，之后測量穩定性就會(huì )劣化，這要比最新吉時(shí)利模塊差1,000倍。

4201-SMU和4211-SMU在訂貨時(shí)可以預先配置一個(gè)4200A-SCS，構成全面的參數分析解決方案；也可以現場(chǎng)輕松升級現有的設備，不需把設備發(fā)送到服務(wù)中心，可望節省幾周的中斷時(shí)間。

關(guān)于4200A-SCS

4200A-SCS是一種可以量身定制的全集成參數分析儀，可以同步查看電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和超快速脈沖式I-V特點(diǎn)，加快半導體、材料和工藝開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程。每臺4200A-SCS可以配置最多9個(gè)SMU。該系統的Clarius軟件用戶(hù)界面擁有觸控和滑動(dòng)或點(diǎn)擊控制功能，支持在現代半導體、材料和工藝表征中進(jìn)行高級測試定義、參數分析、圖表繪制和自動(dòng)化。

供貨情況

4201-SMU和4211-SMU模塊現已在全球范圍內供貨。如需進(jìn)一步信息，敬請訪(fǎng)問(wèn)：https://www.tek.com/keithley-4200a-scs-parameter-analyzer。

關(guān)于泰克科技

泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市，致力提供創(chuàng )新、精確、操作簡(jiǎn)便的測試、測量和監測解決方案，解決各種問(wèn)題，釋放洞察力，推動(dòng)創(chuàng )新能力。70多年來(lái)，泰克一直走在數字時(shí)代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng )新之旅，敬請登錄：tek.com.cn

# # #

Tektronix是泰克公司的注冊商標。所有其他商號均為各自公司的服務(wù)標志、商標或注冊商標。