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最新吉時(shí)利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰
- Keithley 4200A-SCS參數分析儀模塊為擁有高測試連接電容、不穩定低電流測量的應用提供了理想的解決方案中國北京2019年11月13日 – 泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長(cháng)電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時(shí)，其仍能執行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著(zhù)這一挑戰，如LCD顯示器制造和卡盤(pán)上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會(huì )增加SMU輸出端的電容。
- 關(guān)鍵字： 泰克科技 Keithley 器件測試
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